一种应用于TDLAS设备的自校准方法及系统

    公开(公告)号:CN119510350A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411697859.2

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于光源扫描技术的TDLAS激光测量设备自校准方法,旨在提高设备在复杂工业环境中的测量稳定性。TDLAS(调制激光吸收光谱)技术因其高灵敏度和选择性被广泛应用于气体检测。然而,设备在安装过程中容易受到位置偏差和振动的影响,导致测量精度下降。为此,本发明设计了一种自校准系统,包括激光发射模块、多组可调自校准光线发射器和靶接收器,所有组件均固定在模块基座上。通过控制系统对自校准光线发射器的角度进行快速扫描,从而精确定位接收器。自校准过程分为初步和精细两步,利用面光源和点光源分别进行大范围和小范围的扫描,以达到高效精准校正的目的。

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