复合绝缘子芯棒老化的判断方法

    公开(公告)号:CN102662131B

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201210167361.6

    申请日:2012-05-25

    Abstract: 本发明提供了一种复合绝缘子芯棒老化的判断方法。该判断方法包括:对被测的复合绝缘子芯棒进行取样得到试片;对试片进行热刺激电流TSC试验;通过试验得到的TSC曲线计算试片的陷阱电荷量和陷阱能级;根据试片的陷阱电荷量和陷阱能级判断芯棒的老化程度。采用本发明的技术方案,从微观电特性角度来进行复合绝缘子老化状态的评估,使用陷阱电荷量和陷阱能级为特征量对老化程度进行量化,为复合绝缘子的可靠运行提供了数据基础,为进一步制定复合绝缘子的维护方案提供了依据,解决了现有技术中的复合绝缘子芯棒老化程度无法判断的问题。

    复合绝缘子芯棒老化的判断方法

    公开(公告)号:CN102662131A

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN201210167361.6

    申请日:2012-05-25

    Abstract: 本发明提供了一种复合绝缘子芯棒老化的判断方法。该判断方法包括:对被测的复合绝缘子芯棒进行取样得到试片;对试片进行热刺激电流TSC试验;通过试验得到的TSC曲线计算试片的陷阱电荷量和陷阱能级;根据试片的陷阱电荷量和陷阱能级判断芯棒的老化程度。采用本发明的技术方案,从微观电特性角度来进行复合绝缘子老化状态的评估,使用陷阱电荷量和陷阱能级为特征量对老化程度进行量化,为复合绝缘子的可靠运行提供了数据基础,为进一步制定复合绝缘子的维护方案提供了依据,解决了现有技术中的复合绝缘子芯棒老化程度无法判断的问题。

    基于水扩散与解剖法的复合绝缘子交界面缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN104459029A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410546698.7

    申请日:2014-10-15

    Abstract: 本发明提供了一种基于水扩散与解剖法的复合绝缘子交界面缺陷检测方法,包括:(1)截取多支样品,并记录在截取前各样品上的明显老化现象;(2)对各样品进行水煮预老化处理;(3)对各样品进行加压试验,记录泄漏电流值以及局部异常温升现象;(4)对各样品进行解剖并沿径向拉扯其伞裙,记录各样品的芯棒表面硅橡胶材料的残余量;(5)根据记录结果,按照验收标准对各样品进行验收。本发明通过水煮带护套的绝缘子,加速了复合绝缘子交界面的老化,可以对存在交界面隐患的绝缘子进行早期预测,且同时使用水扩散与解剖法,能大大降低交界面缺陷的漏检率,可有效的检出复合绝缘子的交界面缺陷,具有准确度高、易于实现、低成本等优点。

    一种具有波浪式导杆的直流母线结构

    公开(公告)号:CN118920287A

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202411166404.8

    申请日:2024-08-23

    Abstract: 本发明涉及一种具有波浪式导杆的直流母线结构,包括设置于相邻绝缘子之间的腔壳,腔壳延伸至绝缘子,所述腔壳内安装有导杆,所述导杆的左右两端通过触座与绝缘子相连,所述导杆包括管体,管体的左右两端位于触座内,所述管体上开设有沿左右方向贯穿管体的导杆腔,所述管体的外壁上设置有若干凸起,相邻凸起之间形成低场强区域,凸起处形成高场强区域,场强与凸起的曲率成正相关,所述凸起为半椭圆型,所述凸起沿管体的周向环形闭合,凸起的内壁与管体的外壁固接,高场强区域的场强大于低场强区域的场强,高场强区域的场强为5.3~6.7kV/mm,本发明通过改变导杆的表面形貌改变导杆表面场强分布,诱导飞萤运动,使其远离绝缘子。

    一种传导电流测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113721066A

    公开(公告)日:2021-11-30

    申请号:CN202111062235.X

    申请日:2021-09-10

    Abstract: 本申请属于电气材料技术领域,特别是涉及一种传导电流测量装置及方法。现有的测量方案中的电极结构为平板结构电极,所对应电场均匀程度为均匀场。但实际GIS/GIL中均为同轴结构电极,所对应的电场为较不均匀场。本申请提供了一种传导电流测量装置,包括依次连接的直流高压发生系统、高气压密封腔体、电流测量系统和信号采集系统,所述高气压密封腔体与进排气系统连接,所述高气压密封腔体、微弱光测量系统与所述信号采集系统连接,所述高气压密封腔体内设置有同轴结构电极。采用光电联合监测手段,同步测量同轴结构电极传导电流与光学信号,测试结果不受外界干扰影响。

    一种真空下温度可快速变化的电子束辐射系统

    公开(公告)号:CN109596905B

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN201811502098.5

    申请日:2018-12-10

    Abstract: 本申请公开一种真空下温度可快速变化的电子束辐射系统,包括:真空腔体、电子枪、冷槽、加热圈和温度传感器;真空腔体为聚合物材料的空间电荷测试提供真空环境;电子枪、冷槽、加热圈和温度传感器设在真空腔体中;电子枪为聚合物材料的空间电荷测试提供电子束;冷槽固定在真空腔体的底部;冷槽为聚合物材料的空间电荷测试提供冷源;加热圈为聚合物材料的空间电荷测试提供热源;温度传感器采集冷槽的温度,并实时传输至PC端,通过PC端中的温度控制程序控制加热圈和冷槽,使被测试样保持一定的温度,实现对聚合物材料的空间电荷测试的温度控制。采用前述的电子束辐射系统,可以使试样保持在预设温度,实现温度可控,进而提高了测试结果的准确性。

    复合绝缘子老化状态分级及判别方法

    公开(公告)号:CN105403777B

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201510570741.8

    申请日:2015-09-09

    Abstract: 本发明公开了属于高电压与绝缘技术领域的一种复合绝缘子老化状态分级及判别方法,该方法采用聚类分析方法,以选取憎水性丧失试验的丧失静态接触角均值X1、丧失静态接触角最小值X2和憎水性恢复试验的恢复静态接触角均值X3以及热刺激电流(TSC)的陷阱电荷量X4、陷阱能级X5这5个变量对18支试样进行老化状态量化分级;并通过判别分析方法对3支未知老化状态试样进行判别,得到各个老化等级判别函数;其中,判别标准根据陷阱电荷量大小,由聚类分析结果给出,老化状态分级结果通过判别分析方法来验证精确性,本发明可以通过测量陷阱的电荷量来判断出聚合物材料的老化程度,避免事故发生造成各种损失。

    基于SST的测量设备
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105891648B

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201610440249.3

    申请日:2016-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于SST的测量设备。该测量设备包括:设备本体和腔体,设备本体形成有容纳腔,腔体设置在容纳腔内,其中,腔体上开设有第一安装孔;测量装置,测量装置穿过第一安装孔并部分地设置在腔体内,测量装置用于测量腔体内的低温绝缘气体的放电参数,如碰撞电离系数α、吸附参数η及二次电子发射系数γ等;传动装置,传动装置与测量装置连接,传动装置用于控制测量装置的测量位置;二级冷头和加热片,二级冷头安装在腔体上,并与制冷机连接,加热片贴在腔体上,二级冷头和加热片用于控制腔体内的绝缘气体的温度。本发明解决了相关技术中无法对低温气体的放电参数进行测量的技术问题。

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