一种基于光透射法的GIL管道内微纳粉尘浓度检测平台

    公开(公告)号:CN116990199A

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202310760013.8

    申请日:2023-06-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于光透射法的GIL管道内微纳粉尘浓度检测平台,探测平台内包括光源部分、GIL缩比模型部分、高压电源部分、充气部分、信号采集和处理部分共五部分。GIL缩比模型按照真实GIL的比例和材料制作而成,运行情况也与实际情况相同;充入SF6气体,真实模拟GIL运行的气体环境。内部放置有同轴圆柱电极,GIL壳体上放置着金属微纳粉尘,模拟生产、运行过程中GIL产生的金属微纳粉尘。半导体激光器的激光通过菲涅尔透镜扩展成平行区域的光,光路通过观察窗1、同轴圆柱电极近绝缘子处、观察窗2,光信号由光电倍增管接收,经过数据处理系统最终得到此时的浓度值。基于此检测平台,可以对GIL管道内的微纳粉尘浓度进行实时非侵入式检测。

    一种基于磁感应断层成像技术的GIL内绝缘子表面吸附粉尘探测平台

    公开(公告)号:CN116990197A

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202310573270.0

    申请日:2023-05-19

    Abstract: 本发明公开了一种GIL内基于磁感应断层成像技术的绝缘子表面粉尘探测平台,探测平台内包括GIL缩比模型、激励模块、检测模块和图像重建模型共四部分。GIL缩比模型按照真实GIL的比例和材料制作而成,运行情况也与实际情况相同。GIL内绝缘子的某一横截面的相对介电常数和电导率与之前相比发生了改变,检测模块采集到的磁感应强度B相位值与GIL未运行时候采集到的磁感应强度B'相位值之间有了相位差。在检测线圈的两端中读取差分信号,然后将信号输入到检测模块,导入到计算机中,在计算机中进行图像重建,从而得到金属微纳粉尘在绝缘子上吸附的位置。基于此探测平台,可以对GIL内吸附在绝缘子上的金属微纳粉尘实现非侵入式探测。

    一种基于光透射法的平板电极间微纳粉尘浓度检测平台

    公开(公告)号:CN116858736A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310736840.3

    申请日:2023-06-20

    Abstract: 本发明公开了一种基于光透射法的平板电极间微纳粉尘浓度检测平台,检测平台内包括光源部分、GIL缩比模型部分、高压电源部分、充气部分、信号采集和处理部分共五部分。GIL缩比模型按照真实GIL的比例和材料制作而成,运行情况也与实际情况相同。GIL缩比模型外部为绝缘壳体,壳体接地;壳体前后有两个观察窗,通过螺丝将观察窗固定在壳体上。壳体上有气阀,气阀通过软管与气瓶连接,充入SF6气体,真实模拟GIL运行的气体环境。内部放置有平板电极,平板电极中放置着金属微纳粉尘,模拟生产、运行过程中产生的金属微纳粉尘;平板电极由支架固定,上极板连接高压极线,下级板连接地线。高压极线通过高压套管与变压器连接。变压器与电源连接,调整为需要的电压等级。通过专用电源给氦氖激光器供电,氦氖激光器的激光通过平凸透镜扩展成圆形,光路通过观察窗1、平板电极间、观察窗2,光信号由平衡探测器接收,平衡探测器与锁相放大器连接,将光信号转化成电信号,电信号输入到计算机中,通过数据处理得到此时的浓度值。基于此检测平台,可以对GIL内平板电极间的微纳粉尘浓度进行实时非侵入式检测。

    一种GIL内基于电容层析成像技术的微纳粉尘浓度检测平台

    公开(公告)号:CN116698689A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310667576.2

    申请日:2023-06-07

    Abstract: 本发明公开了一种GIL内基于电容层析成像技术的微纳粉尘浓度检测平台,检测平台内包括GIL模型、电容传感器模块、数据采集模块和图像重建模块四部分。GIL模型包括了高压导线和绝缘外壳,内部放置微纳粉尘,整体放置于空气中。电容传感器模块包含均匀分布的电极阵列,由电极引线连接,通过串行总线输入到数据采集模块。单片机控制信号发生器产生信号,并通过电极选择模块控制电极开关控制阵列。得到的电容测量信号输入到数据采集卡中,依次通过PXI机箱、C/V变换模块、滤波电路滤波、差分放大电路放大以及相敏解调器。在计算机中经过图像重建软件系统Labview,得到此时GIL管道内微纳粉尘的浓度值,从而实现对GIL内微纳粉尘实时浓度检测。

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