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公开(公告)号:CN109671686B
公开(公告)日:2024-05-10
申请号:CN201910084700.6
申请日:2019-01-29
Applicant: 华北电力大学
IPC: H01L23/367 , H01L23/373
Abstract: 本发明公开了一种压接型IGBT的封装结构。该装置包括第一支撑片、散热装置、弹性元件、铜片和IGBT芯片结构;第一支撑片设置在散热装置上,用于支撑安装于压接型IGBT的封装结构上的电子器件;散热装置设置在第一支撑片与铜片之间,用于对IGBT芯片结构散热;弹性元件贯穿设置在散热装置内部,弹性元件一端与第一支撑片连接,另一端与铜片连接;弹性元件用于补偿IGBT芯片结构因发热产生的压力差;铜片设置在散热装置与IGBT芯片结构之间,铜片用于将IGBT芯片结构产生的热量传递至散热装置,还用于将弹性元件的弹力传递至IGBT芯片结构。本发明的装置,在实现IGBT芯片表面压力均匀分布的同时能有效的降低芯片表面温度,具有提高IGBT芯片寿命的优点。
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公开(公告)号:CN109671686A
公开(公告)日:2019-04-23
申请号:CN201910084700.6
申请日:2019-01-29
Applicant: 华北电力大学
IPC: H01L23/367 , H01L23/373
Abstract: 本发明公开了一种压接型IGBT的封装结构。该装置包括第一支撑片、散热装置、弹性元件、铜片和IGBT芯片结构;第一支撑片设置在散热装置上,用于支撑安装于压接型IGBT的封装结构上的电子器件;散热装置设置在第一支撑片与铜片之间,用于对IGBT芯片结构散热;弹性元件贯穿设置在散热装置内部,弹性元件一端与第一支撑片连接,另一端与铜片连接;弹性元件用于补偿IGBT芯片结构因发热产生的压力差;铜片设置在散热装置与IGBT芯片结构之间,铜片用于将IGBT芯片结构产生的热量传递至散热装置,还用于将弹性元件的弹力传递至IGBT芯片结构。本发明的装置,在实现IGBT芯片表面压力均匀分布的同时能有效的降低芯片表面温度,具有提高IGBT芯片寿命的优点。
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公开(公告)号:CN209249451U
公开(公告)日:2019-08-13
申请号:CN201920151824.7
申请日:2019-01-29
Applicant: 华北电力大学
IPC: H01L23/367 , H01L23/373
Abstract: 本实用新型公开了一种压接型IGBT的封装结构。该装置包括第一支撑片、散热装置、弹性元件、铜片和IGBT芯片结构;第一支撑片设置在散热装置上,用于支撑安装于压接型IGBT的封装结构上的电子器件;散热装置设置在第一支撑片与铜片之间,用于对IGBT芯片结构散热;弹性元件贯穿设置在散热装置内部,弹性元件一端与第一支撑片连接,另一端与铜片连接;弹性元件用于补偿IGBT芯片结构因发热产生的压力差;铜片设置在散热装置与IGBT芯片结构之间,铜片用于将IGBT芯片结构产生的热量传递至散热装置,还用于将弹性元件的弹力传递至IGBT芯片结构。本实用新型的装置,在实现IGBT芯片表面压力均匀分布的同时能有效的降低芯片表面温度,具有提高IGBT芯片寿命的优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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