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发明公开
一种基于递归图的储备池神经元故障检测及容错方法审中-实审

公开(公告)号：CN116911351A

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202310724111.6

申请日：2023-06-19

Applicant: 华北理工大学

Inventor： 李莹琦 , 王宇 , 孙建军 , 崔东艳 , 孙晓川

IPC: G06N3/044 , G06N3/08 , G06F17/16

Abstract: 本发明基于储备池神经元状态的确定性DET，提出了一种基于递归图的储备池神经元故障检测及容错方法。DET是从递归图RP中获得的参数之一，RP包括许多信号特征，而这些特征难以被其它工具提取出来。由于神经元的确定性会在特定条件下变化，因此，该指标被用作储备池神经元故障的检测标准。具体地，在故障神经元的检测阶段，通过公式计算训练后的ESN中每个储备池神经元的DET，当某个神经元的DET低于阈值时，可将该神经元视为故障神经元，并记录此故障神经元的位置，实现故障神经元的检测。在容错阶段，将该神经元的输出权值置为零，使其退出当前的计算任务，进而实现储备池的容错计算。最终，通过此方法可构建一个具备实时容错功能的高可靠性ESN。

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