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公开(公告)号:CN116045842A
公开(公告)日:2023-05-02
申请号:CN202211629568.0
申请日:2022-12-19
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提供一种基于差动并行共聚焦的3D测量误差修正方法及系统,属于光学显微成像领域,方法包括:分别采集第一波段及第二波段照明下待测样本的共焦图、第三波段及第四波段照明下待测样本的宽场图,得到第一波段共焦图、第二波段共焦图、第三波段宽场图及第四波段宽场图;根据第一波段共焦图及第三波段宽场图确定第一波段修正图;根据第二波段共焦图及第四波段宽场图确定第二波段修正图;将第一波段修正图与第二波段修正图相减得到差动信号图;根据差动信号轴向响应曲线将差动信号图转换为高度图,以测量待测样本的表面高度。有效消除了差动信号受到光照不均及样本反射率不均等的影响,提高了多波段差动并行共聚焦3D测量结果的精度。