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公开(公告)号:CN112236749B
公开(公告)日:2024-08-27
申请号:CN201880094332.7
申请日:2018-09-21
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F9/30
Abstract: 本申请公开了一种浮点精度检测方法与装置,涉及芯片技术领域,能够解决现有浮点精度检测方法效率低、实现复杂的问题。其方法为:以待检测的第一浮点数作为被测对象,并确定被测对象的第一参照对象和第二参照对象,第二参照对象为对被测对象叠加扰动后得到的;将被测对象、第一参照对象和第二参照对象分别输入算子进行计算,获取被测对象的被测结果、第一参照对象的参照结果以及第二参照对象的扰动结果;根据被测结果、参照结果以及扰动结果确定可接受的扰动误差范围,确定被测结果是否在可接受的扰动误差范围内。本申请实施例用于低精度与高精度、或同精度对象的精度对比检测。
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公开(公告)号:CN112236749A
公开(公告)日:2021-01-15
申请号:CN201880094332.7
申请日:2018-09-21
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F9/30
Abstract: 本申请公开了一种浮点精度检测方法与装置,涉及芯片技术领域,能够解决现有浮点精度检测方法效率低、实现复杂的问题。其方法为:以待检测的第一浮点数作为被测对象,并确定被测对象的第一参照对象和第二参照对象,第二参照对象为对被测对象叠加扰动后得到的;将被测对象、第一参照对象和第二参照对象分别输入算子进行计算,获取被测对象的被测结果、第一参照对象的参照结果以及第二参照对象的扰动结果;根据被测结果、参照结果以及扰动结果确定可接受的扰动误差范围,确定被测结果是否在可接受的扰动误差范围内。本申请实施例用于低精度与高精度、或同精度对象的精度对比检测。
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