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发明公开
光学头力矩器特性参数的检测方法审中-实审

公开(公告)号：CN118111669A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202410255609.7

申请日：2024-03-06

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 王广 , 王海卫 , 陈晖

IPC: G01M11/00 , G01R31/00 , G01R19/00 , G11B7/24097

Abstract: 本申请公开了光学头力矩器特性参数的检测方法。该检测方法通过分别向待测光学头力矩器和标准光学头力矩器输入电压激励信号，促使二者分别产生待测聚焦误差信号和标准聚焦误差信号；进而根据两种误差信号的差异，能够计算及确认待测光学头力矩器的聚焦位移范围。该检测方法无需搭建具有多普勒测振仪的检测系统，利用DVD自身的四个探测器即可实现检测，检测成本大幅降低，而且能够实现待测光学头力矩器的在线检测，在各种生产现场和安装现场即可实现检测，检测方式灵活便利。

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