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公开(公告)号：CN119378140A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411279643.4
申请日：2024-09-12
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/17 , G06F30/20 , G06F17/16 , G06F17/11 , G06F111/06
Abstract: 本发明属于结构拓扑优化相关技术领域，其公开了一种基于基本特征频率的结构双尺度拓扑优化方法及设备，该方法包括以下步骤：(1)基于任意切割高度下的实际微结构的弹性矩阵及体积分数来获得整体刚度矩阵和整体质量矩阵，然后基于得到的整体刚度矩阵和整体质量矩阵通过拓扑优化模型来获得基本特征频率；其中，所述拓扑优化模型的设计变量为各网格单元的切割高度，目标函数是双尺度结构基本特征频率最大化，约束函数为整体结构的体积分数；(2)计算基本特征频率对切割高度的灵敏度，基于计算得到的灵敏度结果来更新设计变量，进而得到最优的双尺度结构。本发明提高了优化迭代的效率。
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