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公开(公告)号：CN118015310A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410092066.1
申请日：2024-01-23
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于工业缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于模板匹配的开放缺陷检测方法，包括：删除线扫成像的待测产品模板图像或实际图像中的前端黑色背景，实现在模板和实际图像按列对齐时产品头部位置对齐；确定实际图像中产品中部畸变产生位置，确定每个位置在模板图像中的对应位置，对实际图像中畸变产生位置进行矫正；对各待检测产品部分在模板和实际图像之间进行像素级配准；在配准后实际图像和模板图像中对各待检测产品区域对应的局部位置均匀划分网格，通过对各匹配网格点对的特征描述符间的相似性，确定实际图像中各异常网格；基于各异常网格，确定每个缺陷区域。本发明能避免采用AI技术进行缺陷检测时所存在对缺陷样本依赖程度高的问题。
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