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公开(公告)号：CN119534309A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411693033.9
申请日：2024-11-25
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种组合构件中界面粘结滑移性能及其劣化演化的监测方法，包括以下步骤：对待测组合构件中刚度相对高的型材进行脱脂清洁预处理，得到预处理后的型材；将基于瑞利散射的分布式光纤传感器沿所测粘结力的方向布置在预处理后的型材表面；将布置完分布式光纤传感器的型材与待测基体通过粘合剂粘结，制备成组合构件；对所述组合构件进行单轴拉伸试验，通过分布式光纤传感器记录试验过程中钢筋应变的分布与演化，得到粘结滑移关系的分布与演化，能够研究局部粘结滑移关系，提高粘结滑移模型的适用性和精准度；在单轴拉伸前对所述组合结构施加工况使结构劣化，能够评估劣化对组合结构粘结性能的影响。
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公开(公告)号：CN107228610B
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201710309984.5
申请日：2017-05-03
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 一种针对筒状曲面的螺旋式扫描测量轨迹规划方法，属于曲面坐标测量技术领域，用于筒状曲面测量，目的是通过减少测头的非测量移动时间以及引导轨迹C(t)的长度，以提高筒状类零件的测量效率。本发明包括构成偏置曲面Sr步骤、偏置曲面Sr三角化步骤、三角化偏置曲面St参数化步骤、规划导向线及间隔线步骤、计算螺旋导向线G(t)和螺旋间隔线E(t)步骤、计算引导轨迹C(t)步骤、生成摆动轨迹参考扫描曲线步骤以及生成摆动扫描轨迹P(t)步骤。本发明测量过程可以通过测头探针针尖的一次往复扫描运动就能够完成，有效地减少了筒状曲面测量过程中测头的非测量移动时间和引导轨迹C(t)的长度，从而显著地提高了筒状曲面的测量效率。
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公开(公告)号：CN105571545A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510856867.1
申请日：2015-11-28
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种基于触发式测头五轴联动机床回转轴线几何参数测量方法，属于数控系统、机床结构参数测量领域，包括仪器安装、参数设置、碰撞采集和RTCP参数计算步骤。通过数控系统，驱动测头探针与标准球进行碰撞并锁存碰撞点机床坐标，根据坐标计算各个示教点相对应的标准球球心坐标，使用最小二乘数据处理方法，对各个标准球球心坐标拟合主动旋转轴与从动旋转轴轴线方向与空间位置，得到RTCP参数。本发明方法可完成五轴联动机床回转轴线几何参数(即RTCP参数)自动精密测量，实现旋转刀具中心点精确控制。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107085409B
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201710438895.0
申请日：2017-06-12
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/404
Abstract: 本发明公开了一种数控机床的动态误差检验方法，包括：数据采集步骤，从数控机床获取与所述数控机床的刀位点的实际位置相关的第一数据和与测头的探针的偏移量相关的第二数据；数据处理步骤，对所述第一数据和所述第二数据进行处理，将所述第一数据和所述第二数据还原成工件坐标系下的理论刀位轨迹，并基于所述理论刀位轨迹和所述第二数据获得实际刀位轨迹；分析步骤，通过比较所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹，得到所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹之间的误差，获得所述数控机床的动态误差。本发明还公开了一种数控机床的动态误差检验装置、用于动态误差检验的数控机床、测头和存储介质。
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公开(公告)号：CN105571545B
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201510856867.1
申请日：2015-11-28
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种基于触发式测头五轴联动机床回转轴线几何参数测量方法，属于数控系统、机床结构参数测量领域，包括仪器安装、参数设置、碰撞采集和RTCP参数计算步骤。通过数控系统，驱动测头探针与标准球进行碰撞并锁存碰撞点机床坐标，根据坐标计算各个示教点相对应的标准球球心坐标，使用最小二乘数据处理方法，对各个标准球球心坐标拟合主动旋转轴与从动旋转轴轴线方向与空间位置，得到RTCP参数。本发明方法可完成五轴联动机床回转轴线几何参数(即RTCP参数)自动精密测量，实现旋转刀具中心点精确控制。
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公开(公告)号：CN107085409A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710438895.0
申请日：2017-06-12
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/404
CPC classification number: G05B19/404 , G05B2219/35408
Abstract: 本发明公开了一种数控机床的动态误差检验方法，包括：数据采集步骤，从数控机床获取与所述数控机床的刀位点的实际位置相关的第一数据和与测头的探针的偏移量相关的第二数据；数据处理步骤，对所述第一数据和所述第二数据进行处理，将所述第一数据和所述第二数据还原成工件坐标系下的理论刀位轨迹，并基于所述理论刀位轨迹和所述第二数据获得实际刀位轨迹；分析步骤，通过比较所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹，得到所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹之间的误差，获得所述数控机床的动态误差。本发明还公开了一种数控机床的动态误差检验装置、用于动态误差检验的数控机床、测头和存储介质。
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公开(公告)号：CN105945649A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610407659.8
申请日：2016-06-12
Applicant: 华中科技大学
IPC: B23Q17/00
CPC classification number: B23Q17/007
Abstract: 本发明公开了基于“S”形检验试件的五轴联动数控机床动态误差检验方法，包括以下步骤：(1)将测头安装在主轴上，并把“S”件装夹在工作台上；(2)测头的探针先贴合“S”件的直纹加工面，以与数控加工“S”件时相同的进给速度和其中一刀具轨迹相同的运动轨迹，沿“S”件的外轮廓扫描测量一周圈，采集刀位点的实际位置及测头探针的偏移量；(3)把数据通过处理还原成工件坐标系下的理论刀位轨迹，获得实际刀位轨迹，从而获得理论刀位轨迹和实际刀位轨迹的误差，该误差即为五轴联动数控机床的动态误差。本发明所述的五轴机床动态精度的检验方法检验的五轴机床，在使用过程中其动态性能良好。
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公开(公告)号：CN107228610A
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201710309984.5
申请日：2017-05-03
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 一种针对筒状曲面的螺旋式扫描测量轨迹规划方法，属于曲面坐标测量技术领域，用于筒状曲面测量，目的是通过减少测头的非测量移动时间以及引导轨迹C(t)的长度，以提高筒状类零件的测量效率。本发明包括构成偏置曲面Sr步骤、偏置曲面Sr三角化步骤、三角化偏置曲面St参数化步骤、规划导向线及间隔线步骤、计算螺旋导向线G(t)和螺旋间隔线E(t)步骤、计算引导轨迹C(t)步骤、生成摆动轨迹参考扫描曲线步骤以及生成摆动扫描轨迹P(t)步骤。本发明测量过程可以通过测头探针针尖的一次往复扫描运动就能够完成，有效地减少了筒状曲面测量过程中测头的非测量移动时间和引导轨迹C(t)的长度，从而显著地提高了筒状曲面的测量效率。
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