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公开(公告)号:CN1666952A
公开(公告)日:2005-09-14
申请号:CN200510018470.1
申请日:2005-03-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种MEMS圆片或器件的动态测试加载装置,该装置的结构为:透光片置于腔体的开口端面上,与腔体构成密封腔,在腔体上装有电极,开有充气口、抽真空口和真空计接口,支架固定在腔体的底座上,调节螺钉装在支架的底座内,压电陶瓷置于支架内,其下端与调节螺钉相接,上端与支架相接,支承板固定在支架上,圆片压条与支承板相固定。该装置通过压电陶瓷可以得到精确的振动频率和振幅,能够实现频率和振幅在相对较大的范围内变化,而且便于控制,可为MEMS圆片或器件测试时,提供不同的真空度,不同的温度和不同的振动状态环境。
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公开(公告)号:CN1282598C
公开(公告)日:2006-11-01
申请号:CN200510018470.1
申请日:2005-03-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种MEMS圆片或器件的动态测试加载装置,该装置的结构为:透光片置于腔体的开口端面上,与腔体构成密封腔,在腔体上装有电极,开有充气口、抽真空口和真空计接口,支架固定在腔体的底座上,调节螺钉装在支架的底座内,压电陶瓷置于支架内,其下端与调节螺钉相接,上端与支架相接,支承板固定在支架上,圆片压条与支承板相固定。该装置通过压电陶瓷可以得到精确的振动频率和振幅,能够实现频率和振幅在相对较大的范围内变化,而且便于控制,可为MEMS圆片或器件测试时,提供不同的真空度,不同的温度和不同的振动状态环境。
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