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公开(公告)号:CN118279247A
公开(公告)日:2024-07-02
申请号:CN202410297815.4
申请日:2024-03-15
Abstract: 本发明属于缺陷检测领域,并具体公开了一种基于特征聚类的红外无损缺陷检测方法及系统,其包括:获取待测样品的红外温度序列信息;对红外温度序列信息进行特征提取,基于提取的特征进行聚类,以聚类结果中像素点数量最多的类为非缺陷区域类,进而得到非缺陷区域代表性降温曲线;基于红外温度序列信息,分别获取各像素点温度关于时间变化的温度曲线;分别确定各像素点温度曲线与非缺陷区域代表性降温曲线的最大差值所在时刻,基于该时刻像素点进行图像重建,得到缺陷检测图像。本发明可增加不同区域对比度,提升缺陷的可识别性,具有检测精度高、适应性广的特点,适合于红外无损探伤的场景。
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公开(公告)号:CN115330845A
公开(公告)日:2022-11-11
申请号:CN202210907206.7
申请日:2022-07-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于光电检测相关技术领域,并公开了一种基于双目相机的数控折弯工件折弯角的测量方法及装置。该测量方法包括:S1对于双目相机进行标定,获取双目相机的内参和外参;S2在待检测折弯工件的一个折弯面和机床下模上引入两条线激光,采集两条线激光的图像,对该图像进行处理获得两条线激光的点云数据;S3将点云数据拟合为平面;S4计算下模面与折弯面的夹角;S5利用折弯件面分别与机床下模面的夹角计算折弯件两个面之间的夹角。本发明还公开了上述测量方法对应的测量装置。通过本发明,解决折弯工件角度测量中精度低、效率低、工件容易被划擦的问题。
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