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公开(公告)号:CN100505352C
公开(公告)日:2009-06-24
申请号:CN200710168719.6
申请日:2007-12-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种LED芯片及其制备方法。先在外延片的P型GaN层上依次逐层沉积反射层、P电极和绝缘层;在绝缘层和散热层上分别沉积键合金属材料;对准后进行键合;倒装后减薄衬底,再用激光聚焦在外延片的衬底与GaN缓冲层交界面进行衬底剥离;刻蚀GaN缓冲层直到N型GaN裸露并将裸露的N型GaN层图形化,使其上表面为三维凸起阵列;在图形化的N型GaN层上沉积一层ITO作为透明电极并在该结构的四角刻蚀出4个沟槽结构,刻蚀沟槽从顶端N型GaN层刻蚀到P型电极层裸露;在ITO上刻蚀出电极孔并沉积金属制作N电极焊点。本发明能提高出光效率和芯片性能,又能减化工艺过程,可增加单芯片面积和发光面积,提高其出光功率。
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公开(公告)号:CN101183701A
公开(公告)日:2008-05-21
申请号:CN200710168719.6
申请日:2007-12-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种LED芯片及其制备方法。先在外延片的P型GaN层上依次逐层沉积反射层、P电极和绝缘层;在绝缘层和散热层上分别沉积键合金属材料;对准后进行键合;倒装后减薄衬底,再用激光聚焦在外延片的衬底与GaN缓冲层交界面进行衬底剥离;刻蚀GaN缓冲层直到N型GaN裸露并将裸露的N型GaN层图形化,使其上表面为三维凸起阵列;在图形化的N型GaN层上沉积一层ITO作为透明电极并在该结构的四角刻蚀出4个沟槽结构,刻蚀沟槽从顶端N型GaN层刻蚀到P型电极层裸露;在ITO上刻蚀出电极孔并沉积金属制作N电极焊点。本发明能提高出光效率和芯片性能,又能减化工艺过程,可增加单芯片面积和发光面积,提高其出光功率。
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