公开(公告)号：CN119935006A

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202411731414.1

申请日：2024-11-29

Applicant: 华中农业大学

Inventor： 张纾 ,  高艺伟 ,  张建 ,  陈佳鹏 ,  谢育泰

IPC: G01B11/24 ,  G06V20/10 ,  G06V10/82 ,  G06T7/50 ,  G06T7/70 ,  G01B11/06 ,  G01B11/26 ,  G01B11/00

Abstract: 一种大田玉米植株表型测量方法及系统，该方法先采用图像采集器拍摄大田玉米植株的RGB图像及深度图像，再基于YOLOv8模型中添加的clip模块从深度图像中提取出蒙板图像，并对RGB图像进行蒙板处理，然后采用YOLOv8模型对蒙板处理后的RGB图像进行目标识别，接着确定识别出的目标所输出的关键点像素坐标，随后从深度图像中提取出与关键点像素坐标对应的坐标深度，计算关键点的相机坐标系坐标后将其转换为世界坐标系坐标，通过坐标匹配确定属于同一植株的关键点并进行配对，最后根据配对的关键点的世界坐标系坐标，计算得到玉米植株的穗位高以及叶夹角。本发明可实现低分辨率图像的穗位高和叶夹角表型的精准解析。