公开(公告)号：CN117516872A

公开(公告)日：2024-02-06

申请号：CN202311742231.5

申请日：2023-12-15

Applicant: 华中光电技术研究所(中国船舶集团有限公司第七一七研究所)

Inventor： 陈柘 ,  曹明朗 ,  史巍巍 ,  严加朋 ,  高方阳

IPC: G01M11/00 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种多波段光电系统跟踪性能测试装置，包括支承台，同轴相连的多波段模拟无穷远目标和精密回转轴系，精密回转轴系的出口设有反射光路，多波段模拟无穷远目标的光线穿过精密回转轴系和反射光路后汇聚到被测光电系统。本发明还公开了一种多波段光电系统跟踪性能测试方法，步骤如下：一：反射光路形成圆锥形光路；二：建立球面坐标系，定义旋转轴及多个夹角；三：求取理论上的被测光电系统方位角和俯仰角；四：获取被测光电系统的角度真值，比较与理论上被测光电系统方位角和俯仰角之间的误差。本发明能够弥补现有光电测试方法在室外受限可见光范围内和室内仿真图像目标测试的不足，可以广泛应用于光电导航及测试技术领域。

公开(公告)号：CN117929869A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202311614388.X

申请日：2023-11-27

Applicant: 华中光电技术研究所(中国船舶集团有限公司第七一七研究所)

Inventor： 鲁雪峰 ,  樊九九 ,  郭宏宇 ,  寇会平 ,  严加朋

IPC: G01R31/00 ,  G06F17/10

Abstract: 本发明公开了一种舰载电子设备可靠性加速试验方法、系统及介质，其方法包括以下步骤：调整热循环试验剖面中的试验应力条件，再基于时变Peck模型加速缩短热循环试验剖面中的热试验时间，并将预设次数冷循环试验剖面与时间缩短后的预设次数热循环试验剖面构造为目标次数温度循环试验剖面；调整温度循环试验剖面中的试验应力条件，再基于Coffin‑Masson模型加速减少温度循环试验剖面的目标次数；获取舰载电子设备的初始振动应力频谱，基于累计损伤疲劳模型对初始振动应力频谱进行加速，获取加速后的目标振动应力频谱；最后对舰载电子设备进行可靠性加速试验，因此在完成可靠性指标验证目的的基础上，实现可靠性试验时间的大大缩短。

公开(公告)号：CN119757406A

公开(公告)日：2025-04-04

申请号：CN202411793537.8

申请日：2024-12-09

Applicant: 华中光电技术研究所(中国船舶集团有限公司第七一七研究所)

Inventor： 刘济豪 ,  严加朋 ,  胡雨 ,  曹明朗

IPC: G01N21/956 ,  G01N21/01 ,  G01N21/88 ,  G01N21/25 ,  G01R31/52 ,  G01R31/54 ,  G01R31/28 ,  G01R1/04 ,  G01R1/02 ,  G01D21/02 ,  G06T7/00 ,  G06T7/10 ,  G06T7/40

Abstract: 本发明实施例提供了一种电路板表面缺陷检测装置及方法。电路板表面缺陷检测装置包括：缺陷采集单元和缺陷分析单元；缺陷采集单元包括精密位移台、线激光器、环形光源、工业镜头、分光器、面阵相机一和面阵相机二；缺陷分析单元包括计算分析设备和结果显示设备；检测方法基于该检测装置实现。该装置和方法在同时实现二维缺陷检测和三维缺陷检测的前提下，采用共口径技术简化了二维特征与三维点云配准的过程。在特征提取阶段，将二维特征的提取结果作为三维点云提取的先验条件，能够节省检测设备的算力需求，提高检测效率。在缺陷识别过程中，将二维特征中包含的信息与三维点云结合，从多个维度识别缺陷，能够准确快速完成电路板表面缺陷的检测。