公开(公告)号：CN116595865A

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202310503801.9

申请日：2023-05-06

Applicant: 华东理工大学

Inventor： 李勇 ,  顾昊言 ,  罗志 ,  邢改兰 ,  李珅豌 ,  王郅俣

IPC: G06F30/27 ,  G06N3/006 ,  G06F17/15 ,  G06F17/10 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明涉及一种基于维纳过程的设备剩余寿命预测方法，包括以下步骤：基于年龄和状态相关维纳过程模型，构建退化模型；利用极大似然估计结合改进人工蜂群算法，估计退化模型中的参数；利用强跟踪滤波器更新退化模型中的随机参数；通过退化过程模拟方法计算设备剩余寿命的概率密度函数。与现有技术相比，本发明可以应用于退化模型含时变扩散项和失效阈值随机的情况，具有更广泛的适用性，且预测结果准确。

公开(公告)号：CN118535974A

公开(公告)日：2024-08-23

申请号：CN202410695767.4

申请日：2024-05-31

Applicant: 华东理工大学

Inventor： 李勇 ,  张显程 ,  顾昊言 ,  夏丰元 ,  夏咸喜 ,  束国刚 ,  谷行行

IPC: G06F18/241 ,  G06F18/27 ,  G06F18/23213

Abstract: 本发明涉及一种设备剩余使用寿命预测方法、设备及介质，该方法包括：S1、建立含多项式漂移项的设备退化模型；S2、利用岭回归结合极大似然估计法对设备退化模型进行参数估计；S3、采用高斯混合模型进行潜在失效模式分类，根据分类结果采用核密度估计计算随机失效阈值；S4、采用基于模糊重采样的粒子滤波算法更新高斯混合模型参数，根据高斯混合模型参数识别潜在失效模式并更新随机失效阈值；S5、计算剩余使用寿命概率密度函数值，将剩余使用寿命概率密度函数最大值对应时间作为剩余使用寿命的估计结果。与现有技术相比，本发明考虑了设备潜在失效模式对失效阈值的影响，可应用于存在多种潜在失效模式的情况，具有更广泛的适用性，且预测结果准确。