公开(公告)号：CN119130963A

公开(公告)日：2024-12-13

申请号：CN202411206018.7

申请日：2024-08-29

Applicant: 华东理工大学

Inventor： 张显程 ,  程华裔 ,  尹小恰 ,  涂善东 ,  刘爽 ,  朱林 ,  孔德畅 ,  成昊南

IPC: G06T7/00

Abstract: 本申请公开一种基于双目结构光技术的缺陷检测方法、装置、介质及产品，涉及缺陷检测技术领域，包括：获取待测构件表面的多张左相机图像和多张右相机图像；利用所有左相机图像、右相机图像和预设编码，确定左相机像平面和右相机像平面上各像素点的绝对相位；基于各像素点的绝对相位进行匹配，得到多组共轭点；一组共轭点包括：一个左相机像平面上的像素点和一个右相机像平面上的像素点；基于各组共轭点中两个像素点的坐标，确定各组共轭点对应的空间点的三维坐标，从而构成待测构件表面的实测三维点云；基于待测构件表面的实测三维点云和标准三维点云，确定待测构件表面缺陷的位置和尺寸信息。本申请提高了构件表面缺陷检测的效率及精度。