公开(公告)号：CN1811357A

公开(公告)日：2006-08-02

申请号：CN200610005149.4

申请日：2006-01-13

Applicant: 北海道TLO株式会社 ,  欧姆龙株式会社

Inventor： 冈和彦 ,  谷口敦史 ,  冈部浩史

IPC: G01J3/447

CPC classification number: G01J4/04

Abstract: 本发明涉及一种分光偏振测定法和分光偏振器；温度改变或其他的因素会导致延迟器的延迟发生变化，并且这种变化致使表示光偏振态的参数产生测量误差，本发明是为了有效地减小这种测量误差，同时保持沟槽分光偏振器的多种特性。通过求解方程，由沟槽光谱P(σ)中包含的每个振动分量，得到参考相位函数φ1(σ)和φ2(σ)，在测量光谱测定的斯托克斯参数S0(σ)、S1(σ)、S2(σ)和S3(σ)的同时，校准参考相位函数φ1(σ)和φ2(σ)。

公开(公告)号：CN1811357B

公开(公告)日：2010-05-12

申请号：CN200610005149.4

申请日：2006-01-13

Applicant: 国立大学法人北海道大学 ,  欧姆龙株式会社

Inventor： 冈和彦 ,  谷口敦史 ,  冈部浩史

IPC: G01J3/447

CPC classification number: G01J4/04

Abstract: 本发明涉及一种分光偏振测定法和分光偏振器；温度改变或其他的因素会导致延迟器的延迟发生变化，并且这种变化致使表示光偏振态的参数产生测量误差，本发明是为了有效地减小这种测量误差，同时保持沟槽分光偏振器的多种特性。通过求解方程，由沟槽光谱P(σ)中包含的每个振动分量，得到参考相位函数φ1(σ)和φ2(σ)，在测量光谱测定的斯托克斯参数S0(σ)、S1(σ)、S2(σ)和S3(σ)的同时，校准参考相位函数φ1(σ)和φ2(σ)。