一种应力作用下薄膜铁电方向探测装置及方法

    公开(公告)号:CN119555646A

    公开(公告)日:2025-03-04

    申请号:CN202510099286.1

    申请日:2025-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种应力作用下薄膜铁电方向探测装置主要由以下几个模块组成:激发光模块:用于入射基频光的偏振初始化、调控及杂散光过滤。包含激发光源‑飞秒脉冲激光器,用于产生合适频率的入射激发光束;包含偏振片,用于对入射光的偏振进行初始化;包含透镜A,用于将入射激光聚焦到待测样品上;包含电动控制的可旋转的二分之一波片,用于对入射光的偏振进行调控。本发明利用非线性光学探测应力下的薄膜铁电方向,并提供了相应的测试系统及方法,不仅克服了现有测量技术中对环境的高敏感,样品准备流程困难等问题,还解决了样品在测量过程中破坏无法进一步进行研究等问题。

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