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公开(公告)号:CN116614734A
公开(公告)日:2023-08-18
申请号:CN202310577494.9
申请日:2023-05-22
Applicant: 北京邮电大学
IPC: H04Q11/00 , H04L41/147 , H04L43/0876
Abstract: 本发明提供一种基于流量预测与ONU迁移的无源光网络动态切片方法、装置及存储介质,所述方法的步骤包括:获取切片中每个ONU的历史流量数据,基于历史流量数据构建输入数据,将所述输入数据输入到预设的预测模型中,输出每个ONU在预测周期对应的输出数据,基于每个ONU的输出数据确定该切片在所述预测周期的预测流量数据;计算当前切片总带宽是否满足预测流量数据;若不满足,则计算其他切片在预测周期的剩余带宽,修改ONU与切片的从属关系,将溢出流量对应的ONU迁移至剩余带宽最大的切片中。本方案通过ONU迁移改变与切片从属关系,提前进行灵活的网络调整,在面对异构网络时避免了成本增加和接入网带宽资源的浪费,能够匹配工业互联网各项设备的需求。
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公开(公告)号:CN111398784A
公开(公告)日:2020-07-10
申请号:CN202010244388.5
申请日:2020-03-31
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明提供了一种基于电化学迁移的尘土污染电路板绝缘失效模拟检测方法。选取NaCl和石英颗粒作为尘土污染物中可溶性盐和不可溶颗粒的代表成分,对电路板在尘土污染下基于电化学迁移机理的绝缘失效进行模拟和检测,包括以下步骤:一,样品准备。电路板样品清洗;在表面定量添加NaCl溶液和覆盖石英颗粒。二,试验环境准备。包括:设置温湿度;电路板样品接入测试系统;设置偏置电压和测量选项。三,进行实验。包括:启动偏置电压;运行温湿箱;启动多通路绝缘电阻测试系统;实验持续24小时。四,数据处理。对电路板失效现象进行形貌分析;提取特征寿命,进行绝缘失效评判。本发明中提供的测试方法简单高效,实验原理符合实际应用情况。
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