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发明公开
自动化试卷分析方法、系统、电子设备、存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN115050039A

公开(公告)日：2022-09-13

申请号：CN202210470540.0

申请日：2022-04-28

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 朱新宁 , 杜龙飞 , 涂亮 , 张春红 , 赵慧

IPC: G06V30/412 , G06V30/26 , G06F16/31 , G06Q10/06 , G06Q50/20

Abstract: 本发明提供一种自动化试卷分析方法、系统、电子设备、存储介质，所述方法包括：获取所述试卷的答题情况信息；基于试卷信息提取知识点；将所述答题情况信息关联至所述知识点，形成知识点掌握分析。通过对试卷的知识点进行提取，结合实际答题情况，实现知识点层级的统计分析，得到学生知识点掌握情况，给教学提供详细参考。

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