公开(公告)号：CN108664391A

公开(公告)日：2018-10-16

申请号：CN201810204976.9

申请日：2018-03-13

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 王雅文 ,  林欢 ,  宫云战 ,  金大海

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明提供一种面向程序状态的故障分类方法、变异测试方法及设备。所述方法包括：基于待测源程序的语法对应的变异算子，为所述待测源程序的每条语句构造故障节点集和状态变异点集；基于所述故障节点集、所述状态变异点集、所述每条语句的状态变异之间的触发关系和传播关系，构造所述待测源程序的变异流图；根据所述变异流图的直接后向支配关系，构造故障类支配树，以对所述待测源程序进行故障分类。本发明从一般性的故障测试原理出发，对故障程序进行分类排序，同时支持多种类型的变异算子，具有较好的可扩展性，进而减少测试次数、优化故障集、简化故障分析成本，可以提升变异测试效率。

公开(公告)号：CN108664391B

公开(公告)日：2021-03-23

申请号：CN201810204976.9

申请日：2018-03-13

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 王雅文 ,  林欢 ,  宫云战 ,  金大海

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明提供一种面向程序状态的故障分类方法、变异测试方法及设备。所述方法包括：基于待测源程序的语法对应的变异算子，为所述待测源程序的每条语句构造故障节点集和状态变异点集；基于所述故障节点集、所述状态变异点集、所述每条语句的状态变异之间的触发关系和传播关系，构造所述待测源程序的变异流图；根据所述变异流图的直接后向支配关系，构造故障类支配树，以对所述待测源程序进行故障分类。本发明从一般性的故障测试原理出发，对故障程序进行分类排序，同时支持多种类型的变异算子，具有较好的可扩展性，进而减少测试次数、优化故障集、简化故障分析成本，可以提升变异测试效率。