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发明公开
一种FPGA芯片的故障注入方法、系统、设备及介质审中-实审

公开(公告)号：CN119337440A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202411370675.5

申请日：2024-09-29

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 张洪欣 , 李彦宏 , 王文广 , 杨晨 , 王元臻

IPC: G06F21/79 , G06F21/72

Abstract: 本发明涉及故障攻击技术领域，公开了一种FPGA芯片的故障注入方法、系统、设备及介质。该方法包括：获取FPGA芯片运行预设加密算法的过程中，FPGA芯片在时序上的实际功耗数据；对FPGA芯片运行预设加密算法的过程进行仿真，得到FPGA芯片在时序上的仿真功耗数据；对实际功耗数据与仿真功耗数据中相对应时刻的数据分别进行乘法运算和累加运算，并获取乘法运算和累加运算得到的值超过预设阈值时所采用的实际功耗数据与仿真功耗数据所对应的时刻，作为FPGA芯片的故障注入时刻；在故障注入时刻，在FPGA芯片内生成电压降，以完成FPGA芯片的故障注入，不需要改变FPGA原有电路，也不需要触发信号，就能实现故障注入。

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