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公开(公告)号：CN110148133A
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201910534181.9
申请日：2019-06-20
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本公开涉及基于特征点及其结构关系的电路板残片图像识别方法，其中在样本库中保存有样本图像及其特征点和特征描述，该方法包括步骤：1、提取残片图像的特征点；2、计算特征点的SIFT描述；3、分别计算每个特征点的SIFT描述与每个样本图像的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；4、对第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集中第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为的该特征点的候选匹配点；5、计算候选匹配点与该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为该特征点的匹配点集；6、在样本图像中寻找与残片图像的第一星型结构匹配的第二星型结构；7、根据星型结构之间的相似性，获得样本图像与残片图像的匹配度。
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公开(公告)号：CN108961240A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810710880.X
申请日：2018-07-03
Applicant: 北京邮电大学
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T7/33 , G06T2207/10024 , G06T2207/30141
Abstract: 本公开涉及爆炸装置电路板残片识别方法，其中在样本库中保存有样本图像及其特征点和特征描述，该方法包括步骤：1、提取残片图像的特征点；2、计算特征点的SIFT描述；3、分别计算每个特征点的SIFT描述与每个样本图像的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；4、对第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集中第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为的该特征点的候选匹配点；5、计算候选匹配点与该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为该特征点的匹配点集；6、在样本图像中寻找与残片图像的第一星型结构匹配的第二星型结构；7、根据星型结构之间的相似性，获得样本图像与残片图像的匹配度。
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公开(公告)号：CN110148133B
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN201910534181.9
申请日：2019-06-20
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本公开涉及基于特征点及其结构关系的电路板残片图像识别方法，其中在样本库中保存有样本图像及其特征点和特征描述，该方法包括步骤：1、提取残片图像的特征点；2、计算特征点的SIFT描述；3、分别计算每个特征点的SIFT描述与每个样本图像的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；4、对第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集中第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为的该特征点的候选匹配点；5、计算候选匹配点与该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为该特征点的匹配点集；6、在样本图像中寻找与残片图像的第一星型结构匹配的第二星型结构；7、根据星型结构之间的相似性，获得样本图像与残片图像的匹配度。
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