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发明公开
测量磁场强度的方法、系统、计算机设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN119511159A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411787159.2

申请日：2024-12-05

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 尚玉峰 , 王鑫 , 张陆峰 , 杨胡江 , 肖井华 , 韩之野

IPC: G01R33/02

Abstract: 本申请涉及磁场探测技术领域，揭示了一种测量磁场强度的方法、系统、计算机程序、设备及存储介质，所述方法包括：在待测区域中设置测量磁场强度的单摆装置；利用角度传感器测量所述单摆装置摆动过程中每个周期的最大摆动角度，利用计算机程序算法，数据处理得到磁场产生阻尼系数；利用阻尼系数与预设的涡流阻尼模型函数计算得到磁场强度。本申请利用单摆运动在磁场中产生的涡流阻尼效应测量磁场强度，能够降低磁场测量的成本、简化磁场测量的操作复杂度。

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