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公开(公告)号：CN103927258B
公开(公告)日：2017-06-23
申请号：CN201410138438.6
申请日：2014-04-08
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种基于状态分区的静态缺陷检测求精方法，包括：S1：将待检测的缺陷模式属性状态机集合置于待测函数控制流入口；S2：程序通过路径由前置位置执行到目标位置；S3：属性状态机的状态沿程序路径进行传递以及变化，在目标位置处到达预设状态；S4：取控制流当前节点，判断是否为控制流最后节点；S5：如果不为控制流最后节点，则根据当前节点信息更新属性状态条件以及属性状态分区集合信息。本发明提供的基于状态分区技术的缺陷检测求精方法，给出了缺陷模式的定义，缺陷模式状态机的定义，路径条件的定义，状态条件的定义，状态分区的定义，基于状态分区技术，给出缺陷检测求精方法，从而提高缺陷检测的精度。
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公开(公告)号：CN103176905B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201310128097.X
申请日：2013-04-12
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种缺陷关联方法，包括：从缺陷报告中提取缺陷对应的代码块，根据所提取的代码块生成缺陷相关代码块序列信息库；获取所述缺陷相关代码块序列信息库的基本频繁子序列，并消除所述基本频繁子序列中不满足约束条件的频繁子序列；依据当前频繁子序列对应的缺陷，对缺陷报告中的缺陷进行分组；根据预设的缺陷关联模式，精化分组的缺陷。本发明同时还公开了一种缺陷关联装置。采用本发明的技术方案，可以对缺陷进行精确的分组。
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公开(公告)号：CN104536883A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410736842.3
申请日：2014-12-05
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种静态缺陷检测方法及其系统，该方法包括：S1、构造被测程序的抽象语法树和控制流图；S2、根据预设的缺陷模式，建立所述缺陷模式的状态机实例，并将所述状态机实例置于待测程序的控制流入口；S3、依路径遍历控制流图，并计算在遍历过程中每个控制流节点的变量的区间信息；S4、根据每个所述控制流节点的变量的区间取值信息，实时地更新所述状态机实例的状态，直到检测到所述状态机实例的缺陷或遍历完成所有路径上的控制流节点。该方法基于符号化的区间分析技术，通过综合采用矛盾的变量取值判断和条件约束验证方法判断程序中的不可达路径，从而提高了缺陷检测的精确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103176905A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310128097.X
申请日：2013-04-12
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种缺陷关联方法，包括：从缺陷报告中提取缺陷对应的代码块，根据所提取的代码块生成缺陷相关代码块序列信息库；获取所述缺陷相关代码块序列信息库的基本频繁子序列，并消除所述基本频繁子序列中不满足约束条件的频繁子序列；依据当前频繁子序列对应的缺陷，对缺陷报告中的缺陷进行分组；根据预设的缺陷关联模式，精化分组的缺陷。本发明同时还公开了一种缺陷关联装置。采用本发明的技术方案，可以对缺陷进行精确的分组。
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公开(公告)号：CN104461864A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410610811.3
申请日：2014-11-03
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统，所述方法包括：S1、将检测插件置入到Eclipse平台；S2、在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径；S3、根据所选择的缺陷模式和存储路径，选择所述Eclipse平台中待测试java文件和/或待测试工程并执行检测；S4、分析处理检测结果。该方法可以在Java开发环境下直接进行代码缺陷的检测，从而提高了软件开发测试的效率。
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公开(公告)号：CN104536883B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201410736842.3
申请日：2014-12-05
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种静态缺陷检测方法及其系统，该方法包括：S1、构造被测程序的抽象语法树和控制流图；S2、根据预设的缺陷模式，建立所述缺陷模式的状态机实例，并将所述状态机实例置于待测程序的控制流入口；S3、依路径遍历控制流图，并计算在遍历过程中每个控制流节点的变量的区间信息；S4、根据每个所述控制流节点的变量的区间取值信息，实时地更新所述状态机实例的状态，直到检测到所述状态机实例的缺陷或遍历完成所有路径上的控制流节点。该方法基于符号化的区间分析技术，通过综合采用矛盾的变量取值判断和条件约束验证方法判断程序中的不可达路径，从而提高了缺陷检测的精确性。
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公开(公告)号：CN103927258A
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201410138438.6
申请日：2014-04-08
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种基于状态分区的静态缺陷检测求精方法，包括：S1：将待检测的缺陷模式属性状态机集合置于待测函数控制流入口；S2：程序通过路径由前置位置执行到目标位置；S3：属性状态机的状态沿程序路径进行传递以及变化，在目标位置处到达预设状态；S4：取控制流当前节点，判断是否为控制流最后节点；S5：如果不为控制流最后节点，则根据当前节点信息更新属性状态条件以及属性状态分区集合信息。本发明提供的基于状态分区技术的缺陷检测求精方法，给出了缺陷模式的定义，缺陷模式状态机的定义，路径条件的定义，状态条件的定义，状态分区的定义，基于状态分区技术，给出缺陷检测求精方法，从而提高缺陷检测的精度。
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公开(公告)号：CN103678128A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310687844.3
申请日：2013-12-13
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种基于抽象解释技术的缺陷警报分组方法，所述方法包括：获取函数控制流图上节点的抽象语义，并获取函数控制流图上所述节点的求精的抽象语义；当在所述节点上报告一个以上缺陷警报时，依据所述缺陷警报间的抽象依赖关系，对所述缺陷警报进行分组。本发明同时还公开了一种基于抽象解释技术的缺陷警报分组装置。采用本发明的技术方案，大大减少了部分缺陷警报的识别工作，提高了测试工作效率。
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