一种基于多光波干涉的高精度光相位量化方法

    公开(公告)号:CN106647099A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611168045.5

    申请日:2016-12-16

    CPC classification number: G02F2/002

    Abstract: 本发明公开了一种在全光信号处理中,基于相位敏感放大的高精度多光波干涉相位量化方法,在现有选择一个特定相位谐波与信号光进行干涉的基础上,通过引入一个或多个更高次特定谐波对低次谐波的量化结果进行改善和矫正;同时通过干涉光波产生和叠加分开的实现方式来精确控制干涉光波间的功率比。该发明带来更为精确的相位量化结果、更为方便的功率比控制,同时可以应用到相位调制信号的再生,实现高精度量化的目标。

    一种基于多光波干涉的高精度光相位量化方法

    公开(公告)号:CN106647099B

    公开(公告)日:2019-08-16

    申请号:CN201611168045.5

    申请日:2016-12-16

    Abstract: 本发明公开了一种在全光信号处理中,基于相位敏感放大的高精度多光波干涉相位量化方法,在现有选择一个特定相位谐波与信号光进行干涉的基础上,通过引入一个或多个更高次特定谐波对低次谐波的量化结果进行改善和矫正;同时通过干涉光波产生和叠加分开的实现方式来精确控制干涉光波间的功率比。该发明带来更为精确的相位量化结果、更为方便的功率比控制,同时可以应用到相位调制信号的再生,实现高精度量化的目标。

Patent Agency Ranking