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公开(公告)号：CN109949363A
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201910231489.6
申请日：2019-03-26
Applicant: 北京遥感设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于太赫兹仿生复眼成像系统的目标识别定位系统，本发明基于太赫兹仿生复眼探测结构，通过子孔径拼接、大视场畸变校正、太赫兹接收芯片非均匀性校正、图像超分辨率重构、智能识别与定位等模块，构建太赫兹仿生复眼成像及目标识别定位系统，实现对多通道仿生复眼成像系统的图像拼接、超分辨率重构及目标识别与定位。该系统能弥补太赫兹仿生复眼成像系统受太赫兹多通道接收芯片阵列、硅材料微透镜等基础器件发展现状及成像方法限制而产生的畸变大、分辨率低、定位计算复杂等不足，完成对目标的大视场探测、识别与定位。
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公开(公告)号：CN114217576B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202111327308.3
申请日：2021-11-10
IPC: G05B19/418
Abstract: 一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制方法，属于产品质量控制领域。针对车间质量管理方面存在的问题，根据统计过程控制的原理，运用计算机信息技术设计开发了一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制技术的系统，运用SPC方法对加工车间的生产过程进行有效监控，按照明确车间质量管理业务，采集关键过程的产品质量信息，对质量数据进行控制图分析和过程能力分析，通过控制图对生产过程进行监控的管理流程进行统计过程控制。该统计过程控制系统改善了原有的质量管理模式，能及时发现问题并纠正，最终达到控制整个生产过程，提升生产灵活敏捷性的目的。
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公开(公告)号：CN109307868B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN201811101873.6
申请日：2018-09-20
Applicant: 北京遥感设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于太赫兹波段的单脉冲成像系统及方法，系统包括：卡塞格伦反射面天馈、波形发生器、发射机、信号处理机、准光极化隔离器、准光和差网络、毫米波倍频放大驱动链路、本振倍频放大链路、三通道谐波混频接收机。准光和差网络通过内部介质板的折射、透射以及平面反射器的反射，在输出端口得到和信号与差信号。准光极化隔离器起到极化选择和信号隔离的作用。本发明采用准光和差网络代替传统的波导和差网络，实现了太赫兹波段和差波束的产生；采用准光极化隔离器代替波导环形器实现了和通道的低损耗收发隔离，解决了太赫兹波段单脉冲成像的关键硬件问题，结合太赫兹距离高分辨与单脉冲测角技术，实现适用于太赫兹波段的单脉冲成像。
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公开(公告)号：CN109307868A
公开(公告)日：2019-02-05
申请号：CN201811101873.6
申请日：2018-09-20
Applicant: 北京遥感设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于太赫兹波段的单脉冲成像系统及方法，系统包括：卡塞格伦反射面天馈、波形发生器、发射机、信号处理机、准光极化隔离器、准光和差网络、毫米波倍频放大驱动链路、本振倍频放大链路、三通道谐波混频接收机。准光和差网络通过内部介质板的折射、透射以及平面反射器的反射，在输出端口得到和信号与差信号。准光极化隔离器起到极化选择和信号隔离的作用。本发明采用准光和差网络代替传统的波导和差网络，实现了太赫兹波段和差波束的产生；采用准光极化隔离器代替波导环形器实现了和通道的低损耗收发隔离，解决了太赫兹波段单脉冲成像的关键硬件问题，结合太赫兹距离高分辨与单脉冲测角技术，实现适用于太赫兹波段的单脉冲成像。
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公开(公告)号：CN107677608A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201610621763.7
申请日：2016-08-02
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹准光主动扫描反射成像系统，包括：太赫兹源（1）、对角喇叭（2）、斩波器（3）、接收探测器（8）、扫描支架采样平台（7）、数据采集模块（9）和测控与数据处理模块（10），还包括：分光镜（5）、菲涅耳透镜A（4）和菲涅耳透镜B（6）。本发明与最接近的现有装置相比，分光镜可以有效避免图像畸变，两块菲涅耳透镜可以显著降低太赫兹波的束腰半径，提高成像的空间分辨率，从而获得改善的目标透射图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114217576A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111327308.3
申请日：2021-11-10
IPC: G05B19/418
Abstract: 一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制方法，属于产品质量控制领域。针对车间质量管理方面存在的问题，根据统计过程控制的原理，运用计算机信息技术设计开发了一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制技术的系统，运用SPC方法对加工车间的生产过程进行有效监控，按照明确车间质量管理业务，采集关键过程的产品质量信息，对质量数据进行控制图分析和过程能力分析，通过控制图对生产过程进行监控的管理流程进行统计过程控制。该统计过程控制系统改善了原有的质量管理模式，能及时发现问题并纠正，最终达到控制整个生产过程，提升生产灵活敏捷性的目的。
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公开(公告)号：CN109297932A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201810991427.0
申请日：2018-08-29
Applicant: 北京遥感设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹准光伺服镜扫描连续波反射成像系统，包括：太赫兹信号源(1)、喇叭天线(2)、菲涅耳透镜A(3)、分束镜(4)、菲涅耳透镜B(5)、样品采样台(9)和计算机(11)，还包括：折转反射镜(6)、扫描平面镜(7)、伺服(8)和自混频太赫兹探测器(10)；本发明采用准光伺服镜扫描技术代替二维电控支架扫描，能够提高样品采样数据的获取速度；同时采用自混频太赫兹探测器代替热电探测器，提高了信号检测的响应速度，能够有效地配合扫描平面镜实现对待测样品反射图像信息的采集，满足实时性要求较高的应用场合。
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公开(公告)号：CN109828197B
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN201910207282.5
申请日：2019-03-19
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G01R31/311
Abstract: 本发明提供了一种五维可调的太赫兹接收芯片响应度测量系统及方法。该系统包括：频率源(1)、信号源(2)、准直系统(3)、控制模块(4)、五维可调节结构(5)、功率计(6)、斩波器(7)、锁相放大器(8)和上位机(9)，其中，五维可调节结构(5)包括水平移动台(A)、垂直移动台(B)、转换支架(C)、极化方向调节支架(D)、接收芯片(E)、焦距调节平移台(F)和入射角旋转支架(G)。本发明解决了现有太赫兹接收芯片响应度测量系统因无法准确测量芯片有效面积而造成的响应度测量不准确的问题。
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公开(公告)号：CN109884600A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201811183027.3
申请日：2018-10-11
Applicant: 北京遥感设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于太赫兹波段的和差网络测试系统及方法，系统包括太赫兹信号源、对角喇叭、球面薄透镜、吸波材料、椭球面反射镜、平面反射镜、和差网络、斩波器，其中，吸波材料置于和通道馈电口或差通道馈电口处，太赫兹信号源的输出口与对角喇叭的馈电输入口连接；斩波器置于对角喇叭与球面薄透镜之间；球面薄透镜置于椭球面反射镜的第一个焦点处，平面反射镜置于椭球面反射镜第二个焦点位置。本发明所述测试系统可以对基于准光传输的太赫兹和差网络以及前端的馈电结构进行测试，一方面可以用来分析太赫兹和差网络的和、差波束特性，另外一方面也可以用来确认太赫兹和差网络与前端馈电结构的安装正确性。
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公开(公告)号：CN109828197A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201910207282.5
申请日：2019-03-19
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G01R31/311
Abstract: 本发明提供了一种五维可调的太赫兹接收芯片响应度测量系统及方法。该系统包括：频率源(1)、信号源(2)、准直系统(3)、控制模块(4)、五维可调节结构(5)、功率计(6)、斩波器(7)、锁相放大器(8)和上位机(9)，其中，五维可调节结构(5)包括水平移动台(A)、垂直移动台(B)、转换支架(C)、极化方向调节支架(D)、接收芯片(E)、焦距调节平移台(F)和入射角旋转支架(G)。本发明解决了现有太赫兹接收芯片响应度测量系统因无法准确测量芯片有效面积而造成的响应度测量不准确的问题。
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