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发明公开
一种适用于严苛环境的PCIE外插卡测试系统审中-实审

公开(公告)号：CN115686957A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211272955.3

申请日：2022-10-18

Applicant: 北京计算机技术及应用研究所

Inventor： 王进 , 杨俊 , 唐晓燕 , 宋峙峰 , 习亮 , 万星 , 曲新春

IPC: G06F11/22 , G06F13/40

Abstract: 本发明涉及一种适用于严苛环境的PCIE外插卡测试系统，属于工控测试领域。本发明的系统包括：工控机、测试工装(包括一个PCIE外插卡载板)、测试线缆和PCIE转接卡。本发明通信线缆可远距离可靠传输，目前试验线缆长度为1.2米，PCIE Gen3.0×4正确通信；本发明的测试工装是被测设备的载体，由于PCIE金手指形态接口不防水、不耐湿热和不抗振动冲击，测试工装屏蔽或者衰减了试验过程中施加的应力对被测对象的影响，是环境试验或可靠性试验是否成功的有利保障。本发明的测试系统可靠性高，应用范围广。

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