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公开(公告)号：CN115168229A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210890317.1
申请日：2022-07-27
Applicant: 北京计算机技术及应用研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种覆盖率驱动的嵌入式软件闭环测试平台和方法，属于嵌入式软件开环测试技术领域。本发明利用测试过程中统计嵌入式软件的代码覆盖率指标作为反馈信息，通过比较反馈的覆盖率和目标覆盖率的差异，驱动激励产生器改变嵌入式软件的输入，从而提高嵌入式软件功能测试的覆盖性和充分性，解决传统嵌入式软件开环测试时测试覆盖率有限，测试完备性不易评估，功能测试不充分等问题；利用桩模块记录测试过程中的关键中间变量，解决测试可观测性不足问题；利用测试输入记录技术解决测试输入自动复现问题，提高测试的可重用性。
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