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公开(公告)号：CN114580488A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202011390102.0
申请日：2020-12-02
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
IPC: G06K9/62 , G06V10/762
Abstract: 本发明涉及图像分析领域，尤其涉及一种基于双光谱角的波段聚类选择方法。所述方法为：对样本图片进行预处理，得到目标像素分辨率的高光谱图像；根据背景与中心元素的空间相关性和光谱相关性构建双光谱角特征，对原始特征和双光谱角特征进行计算；利用原始特征和双光谱角特征分别进行聚类；根据关联函数对聚类结果进行优化，使熵函数最小，迭代聚类结果区域稳定后结束，得到最终波段选择结果。本发明兼顾像素间的空间相关性和波段间的光谱相关性，在不牺牲物理属性信息的前提下高效表征高光谱图像的有效特征，降低后续数据处理的计算量。
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