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公开(公告)号：CN115714302A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202211176534.0
申请日：2022-09-26
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
IPC: H01S3/1106
Abstract: 本发明公开了一种光频梳载波包络相移频率自锁定装置及方法，包括：光梳系统、锁模监测电路和载波包络相移频率锁定电路，其中，锁模监测电路的一端连接光梳系统的振荡器的一端，另一端连接光梳系统的反馈调节电路，用于通过产生重复频率监测信号以判断振荡器是否进入锁模状态；载波包络相移频率锁定电路的一端连接光梳系统的振荡器的一端，另一端连接光梳系统的反馈调节电路，用于通过产生载波包络相移频率监测信号以调控光梳系统的泵浦源的控制电流，实现载波包络相移频率锁定。解决了光频梳系统中载波包络相移频率锁定步骤繁琐、不利于产品化推广的问题，提高光频梳系统的智能化和通用化水平。
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公开(公告)号：CN109888602A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910070435.6
申请日：2019-01-25
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种全保偏掺镱飞秒光纤光学频率梳系统，所述系统包括光纤振荡器、光纤隔离器、光纤放大器、光纤压缩器、光谱扩展单元和f-2f自参考拍频光路，其中所述光纤振荡器包括第一啁啾光纤布拉格光栅，所述第一啁啾光纤布拉格光栅提供负色散用于所述谐振腔内的色散补偿；所述光纤压缩器包括第二啁啾光纤布拉格光栅，所述第二啁啾光纤布拉格光栅提供负色散用于所述放大后飞秒脉冲的色散补偿，并压缩所述放大后飞秒脉冲的时域宽度。本发明公开的实施例通过使用保偏型啁啾光纤布拉格光栅能够实现掺镱光纤光学频率梳的全光纤化，提高了掺镱光纤频率梳的稳定性和实用性。
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公开(公告)号：CN109856576A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201811499821.9
申请日：2018-12-09
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种电学参数检定装置综合自检方法，其包括步骤：设置通道切换卡：通道切换卡包括若干横向切换通道和若干纵向切换通道；检定系统包括多通道的测试板卡；将各通道的测试板卡分别与横向切换通道连接，同时，各通道的测试板卡还分别与纵向切换通道连接；结合通道切换卡的横向和纵向设置，将各通道的测试板卡通过横向切换通道和纵向切换通道进行自检或互检。本发明提高了检定系统的设计效率，减少独立自检功能开发的工作量、周期和成本，综合分析并利用检定系统具备的测试资源，并实现对检定系统进行系统级的自检。
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公开(公告)号：CN109856470A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201811499810.0
申请日：2018-12-09
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于自动交互技术的全流程自动化检定方法，属于计量检定技术领域，其步骤如下：(1)设计标准通信协议：设计标准通信协议，规定检定系统和专用测试系统通信格式和内容等信息，实现检定系统和专用测试系统的自动化交互；(2)根据对专用测试系统检定参数的统计和分析，将专用测试系统分为两类，一类是“源”类专用测试系统，一类是“表”类专用测试系统；(3)“源”类专用测试系统的自动化交互检定流程；(4)“表”类专用测试系统的自动化交互检定流程。本发明的基于自动交互技术的全流程自动化检定方法真正实现了全自动化的检定流程，检定过程不仅无需人工录入数据，甚至无需人工值守，尤其是针对目前参数越来越复杂，通道数越来越多的专用测试系统，大大提高了保障部门工作效率。
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公开(公告)号：CN108152615A
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201711319355.7
申请日：2017-12-12
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明属于电学检定技术领域，具体涉及一种提高系统安全性的多重电路。包括便携式PXI机箱、PXI控制器、标准源卡、通道切换卡和数据采集卡；便携式PXI机箱包括显示器、触摸板和PXI总线，PXI总线连接PXI控制器、标准源卡、通道切换卡和数据采集卡；PXI控制器安装在便携式PXI机箱中，检定软件安装在PXI控制器中；标准源卡、通道切换卡和数据采集卡安装在便携式PXI机箱中。为确保自动化检定过程的安全性，在标准源到被检设备通道中实施两种安全性设计，首先对标准信号进行预检，确保数值符合要求再切换给被检设备；此外每个信号通道需要两级自动切换，如果任何一级切换错误出现问题，则无法进行后续检定，从而提高电学测量系统检定过程的安全性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114459602A
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202011242299.3
申请日：2020-11-09
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及光电技术领域，尤其涉及一种斩波装置、方法及光纤耦合式太赫兹时域系统。所述斩波装置包括：半导体激光器、光学扩束器、硅片、杂散光吸收体；所述半导体激光器和所述光学扩束器同轴；所述光学扩束器与所述杂散光吸收体同轴；所述半导体激光器用于发出激光束，激光束经过光学扩束器扩束后照射在硅片上，所述杂散光吸收体用于吸收反射激光。本发明中，半导体激光器尺寸小，输出激光调控简单；利用所述半导体激光器输出的半导体机关调制硅片，可以实现简易调制、集成度高的目的，硅片对激光响应速度快，反应时间短的特点，实现了快速斩波的目的。而且，利用激光调制硅片对太赫兹波的透过率，缺少旋转装置，因此可以实现震动更小的目的。
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公开(公告)号：CN114234854A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111389314.1
申请日：2021-11-22
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明涉及一种三自由度角度同时测量的方法与装置，方法如下步骤：在被测目标上固定安装用于发射光的测量靶镜，所述的测量靶镜分布与两个相互垂直的平面；同时向上述两个相互垂直平面内的测量靶镜发射两束相互垂直的激光，由测量靶镜将激光进行反射；同时对两束反射光按照激光外差干涉测量原理或者激光准直测量原理进行处理，得到两束干涉光信号；同时对两路干涉光信号进行采集并光电转换，得到两路电信号；将得到的两路电信号经过数据处理解算后得到被测目标的俯仰、偏摆和滚转角数值；将实时测量的环境参数计算得到气体折射率数值，利用气体折射率数值实时对上述得到俯仰角、偏摆角和滚转角数值进行补偿与修正。
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公开(公告)号：CN110058217A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910070448.3
申请日：2019-01-25
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01S11/12
Abstract: 本发明公开了一种共链路空气折射率实时补偿测距方法，包括：飞秒光学频率梳生成飞秒脉冲基频光并传输至倍频单元，经倍频单元生成倍频光；所述基频光经分光镜分为两路光束并分别进入参考光路和测量光路，所述倍频光经分光镜分为两路光束并分别进入参考光路和测量光路；调整飞秒光学频率梳的重复频率，所述基频光和倍频光通过飞行时间法分别获得第一粗测距离和第二粗测距离，所述基频光和倍频光通过干涉法获得第一精测距离和第二精测距离；计算所述基频光和倍频光的色散比例因子，并根据所述第一精测距离和第二精测距离计算并获得空气折射率补偿的补偿距离。本发明的实施例通过测量两个波长对应的光程以解决空气折射率对测距精度的影响。
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公开(公告)号：CN109883965A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910070447.9
申请日：2019-01-25
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01N21/31
Abstract: 本发明公开了一种用于高温、高压环境的合成气组份检测装置，属于气体组份检测技术领域，包含激光器，能量检测装置、防护装置、控制器和接收端探测器，其中，控制器分别与控制电脑、输出仪器、激光器以及接收端探测器相连接，激光器与能量检测装置相连接，能量检测装置与一侧防护装置相连接，另一侧防护装置通过处理光路和增强腔与接收端探测器相连接。本发明的装置解决了高温、高压条件下的合成气测量问题，保证了数据获取的实时性，解决了传统过滤、减压导致的测量反馈时间延迟的问题，提高了气化炉的调节控制能力。
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公开(公告)号：CN109883350A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910070438.X
申请日：2019-01-25
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种异形曲面结构内部形貌的高精度测量系统和测量方法，所述测量系统包括生成超短飞秒脉冲并输出泵浦光和探测光的飞秒激光系统、经所述泵浦光激发生成太赫兹波并发射至被测物体的太赫兹波发射器、用于采样所述被测物体的外表面和内表面反射的太赫兹波脉冲太赫兹波探测器、时间延迟控制器、根据所述外表面和内表面反射的太赫兹波脉冲计算时间间隔的平衡探测器、根据所述时间间隔计算所述测试点的结构厚度的处理器，以及固定并带动所述被测物体沿水平方向移动的二维扫描平台，通过测量被测物体各个测试点的机构厚度，从而实现异形曲面结构内部形貌的非接触式测量，解决异形内形面和厚度分布测量的难题，具有广泛的实际应用价值。
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