公开(公告)号：CN119519852A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411660814.8

申请日：2024-11-20

Applicant: 北京航天计量测试技术研究所

Inventor： 董安博 ,  王兵 ,  郝志坤 ,  温世仁 ,  胡家鑫

IPC: H04B17/00

Abstract: 本发明提出了一种分布式VDES系统级测试平台及方法，系统以IEC 62320‑1‑2015等国际标准为依据，以计算机为核心，通过交换机和串口等通信接口，控制高性能测试及信号发生仪器和环境辅助测试设备按测试检测软件要求执行相应的动作，通过内嵌于计算机的测试检测软件的流程要求对多种参数进行测量，完成整个校准流程的自动执行与控制，实现对高性能测试及信号发生仪器和环境辅助测试设备的程控切换，完成校准数据的记录及存储，计算各检测项目的测试结果。

公开(公告)号：CN118759228A

公开(公告)日：2024-10-11

申请号：CN202410764309.1

申请日：2024-06-14

Applicant: 北京航天计量测试技术研究所

Inventor： 胡家鑫 ,  王兵 ,  孙德冲 ,  姜祝 ,  李正阳 ,  张莉莉 ,  张鹏程 ,  郝志坤 ,  董安博

IPC: G01R1/28 ,  H01C1/02 ,  H01C10/50 ,  H01C17/00

Abstract: 一种精密四线制直流标准电阻箱，该装置包括：若干个电阻箱码盘，每个码盘均包括一个精密转换开关和若干串联的标准电阻单元，其中：每个低阻值档位码盘中均设有匹配电阻，与所在码盘中的若干个标准电阻单元串联连接；低阻值档位的码盘通过所述匹配电阻与其他低阻值码盘并联，用于输出低阻值电阻。该装置可大幅提高电阻箱的量程范围，而不具有精度损失；实现了真四线结构，能够消除测试线线缆电阻，避免了被测设备校零等额外操作；同时，由合金箔电阻单元焊接而成，加工制造简单，不需要复杂的特殊工艺流程。