公开(公告)号：CN119865236A

公开(公告)日：2025-04-22

申请号：CN202510026441.7

申请日：2025-01-08

Applicant: 北京航天计量测试技术研究所

Inventor： 冯宇祥 ,  吴宸 ,  张萌 ,  马景灿 ,  陶翔 ,  张一璇 ,  缪寅宵 ,  裴雅鹏 ,  张铁犁 ,  高雅

IPC: H04B10/071

Abstract: 本发明公开了一种基于光频域反射的光学链路测试方法及装置，包括采用频域反射仪对光学链路初始状态下的回波光信号进行测量，得到第一信号；将光学链路功能状态改变后，再次利用频域反射仪对光学链路回波光信号进行测量，得到第二信号；将测得的第一信号和第二信号分别进行快速傅里叶变换，获得对应的频域信号，得到距离和功率关系曲线；在两频域信号中通过滑窗截取同一频段转换为时域信号，对两组信号的时域信号进行互相关运算，获得瑞利散射频移；结合系数，通过计算得到距离和功率分布曲线。本申请可以实现器件级到链路级的集成系统光场幅度、相位参量的快速精确测量校准，高效测量片上光学链路的回损、插损、光谱、延迟等参数。