一种高精度测角方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100559114C

    公开(公告)日:2009-11-11

    申请号:CN200810118038.3

    申请日:2008-08-07

    Abstract: 一种高精度测角方法,首先将待测物体置于旋转平台上,然后将720齿分度台和391齿分度台组合置于旋转平台之上,并在720齿分度台和391齿分度台组合上放置平面反射镜;随后调整光电自准直仪,使其发出的测量光线瞄准平面反射镜;转动720齿分度台和391齿分度台组合,使其旋转一个角度,并记录此时的旋转角度值,随后反向转动旋转平台,使得光电自准直仪发出的测量光线重新瞄准平面反射镜上的同一瞄准位置,此时720齿分度台和391齿分度台组合的旋转角度值即为待测敏感器件转动过的角度值。本发明方法操作步骤简单,可实现整周角度的高精度测试。

    一种高精度测角方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101339011A

    公开(公告)日:2009-01-07

    申请号:CN200810118038.3

    申请日:2008-08-07

    Abstract: 一种高精度测角方法,首先将待测物体置于旋转平台上,然后将720齿分度台和391齿分度台组合置于旋转平台之上,并在720齿分度台和391齿分度台组合上放置平面反射镜;随后调整光电自准直仪,使其发出的测量光线瞄准平面反射镜;转动720齿分度台和391齿分度台组合,使其旋转一个角度,并记录此时的旋转角度值,随后反向转动旋转平台,使得光电自准直仪发出的测量光线重新瞄准平面反射镜上的同一瞄准位置,此时720齿分度台和391齿分度台组合的旋转角度值即为待测敏感器件转动过的角度值。本发明方法操作步骤简单,可实现整周角度的高精度测试。

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