公开(公告)号：CN105675727B

公开(公告)日：2019-06-21

申请号：CN201610039070.7

申请日：2016-01-20

Applicant: 北京科技大学

Inventor： 黎敏 ,  周通 ,  邓金华 ,  宋亚男 ,  徐金梧 ,  徐科

IPC: G01N29/24 ,  G01N29/32

Abstract: 本发明提供一种超声聚焦探头散焦区内缺陷的灵敏度补偿方法，所述灵敏度补偿方法通过制作补偿试样，实测灵敏度补偿曲线，利用超声显微镜获取待测试样的超声回波数据，提取出缺陷的X、Y、Z空间坐标，再根据实际的检测条件选取相对应的补偿曲线，最后根据缺陷的深度H缺和焦点的位置H焦确定补偿系数并完成灵敏度补偿，本发明实现了聚焦探头散焦区内缺陷检测灵敏度的补偿；与平探头的AVG曲线比较，更适用于聚焦探头，不仅实现了对散焦区缺陷的灵敏度补偿，而且具有较高的精度和可重复性，对于缺陷的快速检测、大小的表征具有重要意义，避免了缺陷大小的误判；通过灵敏度的补偿，有利于材料内缺陷尺寸及数量统计分析，可以更准确地评价金属材料的纯净度。

公开(公告)号：CN105675727A

公开(公告)日：2016-06-15

申请号：CN201610039070.7

申请日：2016-01-20

Applicant: 北京科技大学

Inventor： 黎敏 ,  周通 ,  邓金华 ,  宋亚男 ,  徐金梧 ,  徐科

IPC: G01N29/24 ,  G01N29/32

CPC classification number: G01N29/2456 ,  G01N29/32

Abstract: 本发明提供一种超声聚焦探头散焦区内缺陷的灵敏度补偿方法，所述灵敏度补偿方法通过制作补偿试样，实测灵敏度补偿曲线，利用超声显微镜获取待测试样的超声回波数据，提取出缺陷的X、Y、Z空间坐标，再根据实际的检测条件选取相对应的补偿曲线，最后根据缺陷的深度H缺和焦点的位置H焦确定补偿系数并完成灵敏度补偿，本发明实现了聚焦探头散焦区内缺陷检测灵敏度的补偿；与平探头的AVG曲线比较，更适用于聚焦探头，不仅实现了对散焦区缺陷的灵敏度补偿，而且具有较高的精度和可重复性，对于缺陷的快速检测、大小的表征具有重要意义，避免了缺陷大小的误判；通过灵敏度的补偿，有利于材料内缺陷尺寸及数量统计分析，可以更准确地评价金属材料的纯净度。