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公开(公告)号：CN114674859A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202210248070.3
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/2276 , G01N23/2204
Abstract: 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法。利用感应线圈和热敏元件相结合的方式进行原位加热和温度控制，采用高纯铂金片收集挥发溶质或杂质，利用低温介质通入夹持装置进行冷却从而有效冷却铂金片并冷凝挥发出的溶质或杂质，借助于分析室内的旋转台使铂金片处于测试位置，可直接测得挥发元素的种类、浓度及先后顺序。本发明的试样架可实现原位加热和温度准确控制；可直接利用设备自身的液氮冷却系统或通入其他低温介质；采用的铂金片自身物理和化学性质稳定，借助于设备自带的氩离子清洁功能，可实现铂金片的反复利用。本发明试样架，可用作精度高、超高真空环境、测量室空间有限的先进仪器设备的测量附件，具有良好的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110487834B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN201910675137.X
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/2276 , G01N23/2204
Abstract: 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法。利用感应线圈和热敏元件相结合的方式进行原位加热和温度控制，采用高纯铂金片收集挥发溶质或杂质，利用低温介质通入夹持装置进行冷却从而有效冷却铂金片并冷凝挥发出的溶质或杂质，借助于分析室内的旋转台使铂金片处于测试位置，可直接测得挥发元素的种类、浓度及先后顺序。本发明的试样架可实现原位加热和温度准确控制；可直接利用设备自身的液氮冷却系统或通入其他低温介质；采用的铂金片自身物理和化学性质稳定，借助于设备自带的氩离子清洁功能，可实现铂金片的反复利用。本发明试样架，可用作精度高、超高真空环境、测量室空间有限的先进仪器设备的测量附件，具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN110438345B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201910670587.X
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明属于镍金属领域，涉及一种含易挥发Bi元素的金属镍提纯方法。针对含易挥发元素Bi的Ni(Bi)合金，通过高速水流冲洗或超声波清洗Ni(Bi)合金并烘干，将附着的污染物去除；此后将Ni(Bi)合金在1×10‑1～5×10‑3Pa的真空环境中进行200℃～420℃下1～10小时的等温热处理，最终得到5N的高纯Ni金属。本方法制得的高纯Ni金属中Bi的含量低于10ppm，显著高于普通提纯技术的提纯效果，而且方法简便，无明显环境污染，因而具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN110487834A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910675137.X
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/2276 , G01N23/2204
Abstract: 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法。利用感应线圈和热敏元件相结合的方式进行原位加热和温度控制，采用高纯铂金片收集挥发溶质或杂质，利用低温介质通入夹持装置进行冷却从而有效冷却铂金片并冷凝挥发出的溶质或杂质，借助于分析室内的旋转台使铂金片处于测试位置，可直接测得挥发元素的种类、浓度及先后顺序。本发明的试样架可实现原位加热和温度准确控制；可直接利用设备自身的液氮冷却系统或通入其他低温介质；采用的铂金片自身物理和化学性质稳定，借助于设备自带的氩离子清洁功能，可实现铂金片的反复利用。本发明试样架，可用作精度高、超高真空环境、测量室空间有限的先进仪器设备的测量附件，具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN110438345A
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201910670587.X
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明属于镍金属领域，涉及一种含易挥发Bi元素的金属镍提纯方法。针对含易挥发元素Bi的Ni(Bi)合金，通过高速水流冲洗或超声波清洗Ni(Bi)合金并烘干，将附着的污染物去除；此后将Ni(Bi)合金在1×10-1～5×10-3Pa的真空环境中进行200℃～420℃下1～10小时的等温热处理，最终得到5N的高纯Ni金属。本方法制得的高纯Ni金属中Bi的含量低于10ppm，显著高于普通提纯技术的提纯效果，而且方法简便，无明显环境污染，因而具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN210487657U
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201921188732.2
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/2276 , G01N23/2204
Abstract: 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架。利用感应线圈和热敏元件相结合的方式进行原位加热和温度控制，采用高纯铂金片收集挥发溶质或杂质，利用低温介质通入夹持装置进行冷却从而有效冷却铂金片并冷凝挥发出的溶质或杂质，借助于分析室内的旋转台使铂金片处于测试位置，可直接测得挥发元素的种类、浓度及先后顺序。本实用新型的试样架可实现原位加热和温度准确控制；可直接利用设备自身的液氮冷却系统或通入其他低温介质；采用的铂金片自身物理和化学性质稳定，借助于设备自带的氩离子清洁功能，可实现铂金片的反复利用。本实用新型试样架，可用作精度高、超高真空环境、测量室空间有限的先进仪器设备的测量附件，具有良好的应用前景。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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