-
公开(公告)号：CN114693529A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210415591.3
申请日：2022-04-20
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心
Abstract: 本发明提供一种图像拼接方法、装置、设备及存储介质，该方法并非直接将所有子图进行拼接得到一张超大完整图像，而是在拼接过程中，有针对性地检测子图或拼接图像中待测目标对象的完整性；针对完整的目标对象，直接保存当前图像，即可获取得到该完整目标对象，无需再将其与其他子图进行拼接，减少内存占用，故而可降低对设备性能要求，同时也有利于提高拼接效率；针对不完整的目标对象，基于缺失方向检测算法准确确定与之拼接的目标待拼接子图，从而实现高效准确地拼接，直至得到完整的目标对象。
-
公开(公告)号：CN113705569A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202111011208.X
申请日：2021-08-31
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
Abstract: 本发明提供一种图像标注方法及系统，包括监测对待标注图像的框选指令，以确定感兴趣区域；获取感兴趣区域内最小像素值和最大像素值；将设定区域中各像素点的像素值与最小像素值min与最大像素值max进行比较，小于等于最小像素值min的像素点，将其像素值设置为0；大于等于最大像素值max的像素点，将其像素值设置为2n‑1；介于最小像素值min与最大像素值max之间的像素点，将其像素值设置为(value‑min)/(max‑min)*(2n‑1)；以感兴趣区域为标注框生成标注文件。通过局部对比度调节可以将感兴趣区域的各个通道的像素值扩展至最大范围，最大程度凸显待标注对象，提高标注精度；对比度调节与标注同时进行，与现有先调节对比度再标注的方法相比，两步缩短为一步，可以提高标注速度。
-
公开(公告)号：CN118135354A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410193304.8
申请日：2024-02-21
Applicant: 理工特智科技(重庆)有限公司 , 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心
IPC: G06V10/774 , G06V10/82 , G06V10/26 , G06V10/32 , G06T7/90 , G06T5/70 , G06T5/60 , G06N3/045 , G06N3/0475 , G06N3/094
Abstract: 本发明提供一种基于生成网络的数据增强方法、系统、设备及存储介质，包括：以预设比例从原始图像上裁剪得到裁剪图像，并调整其尺寸和色彩，记录变换参数；选定生成网络，采用处理后的裁剪图像对生成网络进行训练直至收敛，基于收敛后的生成网络批量生成目标样本；对目标样本中的目标进行标注，并获取无目标的背景图像，在背景图像中标注出目标位置，在标注范围内随机选择基点作为目标样本的粘贴位置；基于变换参数对目标样本进行尺寸和色彩的逆变换，得到待粘贴图像，根据基点将其粘贴到背景图像中，并对待粘贴图像的边缘进行柔化处理，得到生成图像。本发明通过局部目标生成后融合真实图像的方式，起到了数据增强的效果，增加了模型精度。
-
公开(公告)号：CN117974482A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202311200844.6
申请日：2023-09-18
Applicant: 理工特智科技(重庆)有限公司 , 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心
Abstract: 本发明提供一种用于增强异常检测能力的图像增强方法、系统和设备，其中，方法包括：获取待检测的质检图像，对所述质检图像进行灰度处理，得到第一处理图像；对所述第一处理图像进行背景模糊处理，得到第二处理图像；根据所述第一处理图像和所述第二处理图像，得到增强图像。本发明对于质检过程中采集的图像中的噪音进行处理，对图像中异常位置进行针对性的分离，增强了异常位置的显示程度，减少噪音的干扰，解决了产品质检过程中因采集过程中不可控环境因素导致的噪音影响，提升了异常检测能力。本发明提出的图像增强方法有效地减少图像内不均匀对比度的影响，强化了异常部分的显示，有助于提高异常检测人员和异常检测模型的效率和精度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116834286A
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202310631510.8
申请日：2023-05-31
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心 , 斯图加特航空自动化(青岛)有限公司 , 北京理工大学
IPC: B29C64/386 , B33Y50/00
Abstract: 本发明提供了一种栅格类零件增材制造的最优路径自动生成方法，本发明通过将需要进行打印的路径输入计算机，直接计算并输出栅格类结构的一笔画路径设计方案。对于不能一笔画的结构，我们会在原来结构的基础上，增加最少的辅助线，获得能够一笔完成的路径，最终实现增材制造过程无停顿。在路径设计方面不需要人工参与，且对于栅格类结构，都能够实现一次成型，不需要多次线段组合进行打印，极大提高成品率和生产效率。解决了当前增材制造设备中，栅格类结构的二维切片图无法一次性完成，就会产生断点的问题。
-
公开(公告)号：CN114693529B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202210415591.3
申请日：2022-04-20
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心
Abstract: 本发明提供一种图像拼接方法、装置、设备及存储介质，该方法并非直接将所有子图进行拼接得到一张超大完整图像，而是在拼接过程中，有针对性地检测子图或拼接图像中待测目标对象的完整性；针对完整的目标对象，直接保存当前图像，即可获取得到该完整目标对象，无需再将其与其他子图进行拼接，减少内存占用，故而可降低对设备性能要求，同时也有利于提高拼接效率；针对不完整的目标对象，基于缺失方向检测算法准确确定与之拼接的目标待拼接子图，从而实现高效准确地拼接，直至得到完整的目标对象。
-
公开(公告)号：CN117372674A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311203780.5
申请日：2023-09-18
Applicant: 北京理工大学 , 北京理工大学重庆创新中心 , 理工特智科技(重庆)有限公司
Abstract: 本发明提供一种图像预测框重叠的处理方法、装置、设备及存储介质，其中，方法包括：获取目标检测框，根据所述目标检测框，得到检测框类型；对同检测框类型的目标检测框两两之间进行IOU计算，得到第一IOU计算结果；根据所述第一IOU计算结果标记目标检测框，得到检测目标标记结果；对包括检测目标标记结果的剩余目标检测框两两之间进行IOU计算，得到第二IOU计算结果；根据所述第二IOU计算结果，得到预测框重叠的处理结果。本发明能够对产生的大量的交错重叠的目标检测框进行合并和筛选，解决目标检测框重叠问题。目标检测框清晰明了，更适用于工业检测，减少了人力消耗，提高了检测的效率和准确性。
-
公开(公告)号：CN113269743B
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202110550613.2
申请日：2021-05-20
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
Abstract: 本发明提供一种基于迭代平移核实的芯片数量检测方法，该方法通过从晶圆图像上获得芯片模板图像，确定芯片模板在晶圆上的位置，并进一步利用寻找轮廓算法确定芯片在芯片模板上的位置；基于芯片模板在晶圆上的位置，确定芯片在晶圆上的位置；利用算法对芯片模板上的每个芯片编号，从而得到模板上确定位置和编号的已核实芯片；再利用已核实芯片进行迭代平移，从而对已确定位置但未确定编号的待核实芯片进行核实，最终得到每类编号的芯片数量；实现了对晶圆上不同类型芯片的数量统计，同时解决了因晶圆图像存在畸变，选取一组已核实芯片持续平移核实误差大的问题，提高了数量检测的准确率。
-
公开(公告)号：CN113269743A
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN202110550613.2
申请日：2021-05-20
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
Abstract: 本发明提供一种基于迭代平移核实的芯片数量检测方法，该方法通过从晶圆图像上获得芯片模板图像，确定芯片模板在晶圆上的位置，并进一步利用寻找轮廓算法确定芯片在芯片模板上的位置；基于芯片模板在晶圆上的位置，确定芯片在晶圆上的位置；利用算法对芯片模板上的每个芯片编号，从而得到模板上确定位置和编号的已核实芯片；再利用已核实芯片进行迭代平移，从而对已确定位置但未确定编号的待核实芯片进行核实，最终得到每类编号的芯片数量；实现了对晶圆上不同类型芯片的数量统计，同时解决了因晶圆图像存在畸变，选取一组已核实芯片持续平移核实误差大的问题，提高了数量检测的准确率。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
9
records
(took 0.026 seconds)
