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公开(公告)号:CN111125697B
公开(公告)日:2022-03-04
申请号:CN201911113284.4
申请日:2019-11-14
Applicant: 北京理工大学 , 工业和信息化部计算机与微电子发展研究中心(中国软件评测中心)
Abstract: 本发明公开了基于缺陷摘要的智能合约缺陷可触发性检测方法及系统,该方法包括:对待检测的智能合约进行缺陷检测,提取出一个或多个缺陷摘要;智能合约被调用时,获取实时合约状态数据集合及合约调用数据集合;使用实时状态数据和调用数据,对智能合约的各个缺陷摘要中预设初始符号值进行替换;对符号被替换后的缺陷摘要进行求解,若缺陷摘要的路径约束和缺陷触发条件约束同时有解,检测出所述智能合约在被调用时会触发缺陷。该方法通过将缺陷摘要和智能合约的实时状态数据与合约调用数据相结合来快速判断智能合约中缺陷的可触发性,能够解决现在智能合约缺陷检测中由于没有考虑真实数据而产生的高误报的问题,提高智能合约缺陷检测的准确率。
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公开(公告)号:CN111125697A
公开(公告)日:2020-05-08
申请号:CN201911113284.4
申请日:2019-11-14
Applicant: 北京理工大学 , 工业和信息化部计算机与微电子发展研究中心(中国软件评测中心)
Abstract: 本发明公开了基于缺陷摘要的智能合约缺陷可触发性检测方法及系统,该方法包括:对待检测的智能合约进行缺陷检测,提取出一个或多个缺陷摘要;智能合约被调用时,获取实时合约状态数据集合及合约调用数据集合;使用实时状态数据和调用数据,对智能合约的各个缺陷摘要中预设初始符号值进行替换;对符号被替换后的缺陷摘要进行求解,若缺陷摘要的路径约束和缺陷触发条件约束同时有解,检测出所述智能合约在被调用时会触发缺陷。该方法通过将缺陷摘要和智能合约的实时状态数据与合约调用数据相结合来快速判断智能合约中缺陷的可触发性,能够解决现在智能合约缺陷检测中由于没有考虑真实数据而产生的高误报的问题,提高智能合约缺陷检测的准确率。
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