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公开(公告)号：CN103557753A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201310506921.0
申请日：2013-10-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: F42B35/00
Abstract: 本发明涉及一种激光回波模拟装置及方法，属于激光技术领域。本发明实现了使激光回波模拟装置产生测试所需激光编码，产生4路模拟回波控制信号，模拟“目标在上、目标在下、目标在左、目标在右”四个方位的激光目标，同时激光回波控制器具有自检等功能，在达到上述功能的同时提高了半主动激光制导炸弹全弹性能检测的可靠性与易操作性。本发明控制算法简单，不需要大量的数据计算，实现了控制算法的简单化、可靠性和易读性。
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公开(公告)号：CN103543334A
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201310506629.9
申请日：2013-10-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明提供一种基于FFT的相位差测量装置及方法，属于信号处理技术领域，特别适用于相位式激光测距系统等需要高精度测量相位差的场合。其测量装置为由一款处理器芯片及其外围电路构成的硬件电路。其测量方法包括：对两路相同频率的带有相位差的信号进行同步模数转换；由定时器控制采样频率；连续得到的两组模数转换结果通过DMA控制器存入处理器RAM；对上述两组数据进行浮点复数FFT运算，得出信号的数字频谱；计算出上述两组数字频谱中对应信号频率的谱线的相位，相减后得出上述两路模拟信号的相位差。应用本发明提供的相位差测量装置及方法进行相位差测量，其突出的优点是硬件密度低，测相精度高。
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公开(公告)号：CN103543334B
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201310506629.9
申请日：2013-10-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明提供一种基于FFT的相位差测量装置及方法，属于信号处理技术领域，特别适用于相位式激光测距系统等需要高精度测量相位差的场合。其测量装置为由一款处理器芯片及其外围电路构成的硬件电路。其测量方法包括：对两路相同频率的带有相位差的信号进行同步模数转换；由定时器控制采样频率；连续得到的两组模数转换结果通过DMA控制器存入处理器RAM；对上述两组数据进行浮点复数FFT运算，得出信号的数字频谱；计算出上述两组数字频谱中对应信号频率的谱线的相位，相减后得出上述两路模拟信号的相位差。应用本发明提供的相位差测量装置及方法进行相位差测量，其突出的优点是硬件密度低，测相精度高。
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公开(公告)号：CN103557753B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310506921.0
申请日：2013-10-24
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种激光回波模拟装置及方法，属于激光技术领域。本发明实现了使激光回波模拟装置产生测试所需激光编码，产生4路模拟回波控制信号，模拟“目标在上、目标在下、目标在左、目标在右”四个方位的激光目标，同时激光回波控制器具有自检等功能，在达到上述功能的同时提高了半主动激光制导炸弹全弹性能检测的可靠性与易操作性。本发明控制算法简单，不需要大量的数据计算，实现了控制算法的简单化、可靠性和易读性。
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