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发明公开
一种基于功率测量的光束轨道角动量谱测量方法与装置审中-实审

公开(公告)号：CN119827119A

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202510002585.9

申请日：2025-01-02

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 付时尧 , 陆睿韬 , 高春清

IPC: G01M11/02 , G01J1/00

Abstract: 本发明公开了一种基于功率测量的光束轨道角动量谱测量方法与装置。通过引入不同阶次的参考单模轨道角动量模式依次与待测光束同轴干涉，再分别测量参考光束的光功率值、待测光束的光功率值、干涉后光束的光功率值，可以反推出待测光束的轨道角动量谱。上述分析过程仅需使用功率计测量光束的功率，即可测量光束的轨道角动量谱，成本较低，结构简单，易于控制，可广泛用于超大容量光通信，新体制激光探测，高维量子信息等前沿领域。

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