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公开(公告)号:CN108766890A
公开(公告)日:2018-11-06
申请号:CN201810331340.0
申请日:2018-04-13
Applicant: 北京理工大学
IPC: H01L21/477 , H01L21/02 , H01L21/34
Abstract: 本发明提供了一种低温制备金属氧化物薄膜晶体管的方法,该方法在低温制备In2O3薄膜的过程中,通过NH3等离子处理预退火后的In2O3薄膜,实现制备温度的进一步降低,实现在130℃大气退火4小时的条件下制备得到性能良好的In2O3薄膜。本发明所述方案具有成本低,工艺简单,产品性能好,制备环境环保,应用前景广阔等优点。大大提高了TFT与柔性基板的兼容性。
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公开(公告)号:CN108766890B
公开(公告)日:2020-10-02
申请号:CN201810331340.0
申请日:2018-04-13
Applicant: 北京理工大学
IPC: H01L21/477 , H01L21/02 , H01L21/34
Abstract: 本发明提供了一种低温制备金属氧化物薄膜晶体管的方法,该方法在低温制备In2O3薄膜的过程中,通过NH3等离子处理预退火后的In2O3薄膜,实现制备温度的进一步降低,实现在130℃大气退火4小时的条件下制备得到性能良好的In2O3薄膜。本发明所述方案具有成本低,工艺简单,产品性能好,制备环境环保,应用前景广阔等优点。大大提高了TFT与柔性基板的兼容性。
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