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公开(公告)号：CN114114787B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202111374585.X
申请日：2021-11-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种宽视场相机遮光罩及其设计方法，能够解决相机视场外的强光源通过光机结构及光学镜片的多次反射和散射，进入到光学探测器表面上形成杂散光而影响相机的成像质量的问题。这种宽视场相机遮光罩，其包括：遮光罩主体、多级挡光环，遮光罩采用高吸收率光学材料，遮光罩主体和挡光环均具有消杂散光涂层，多级挡光环之间间隔不相等。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114152352B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202111374591.5
申请日：2021-11-17
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明的红外光学系统由前置光学系统和定量热像仪组成，前置光学系统将入射平行光转为出射平行光，定量热像仪将前置光学系统出射平行光聚焦成像，定量热像仪是已进行了不同条件下的辐射定标，将另一个标准黑体辐射源置于红外光学系统的入瞳处，并确保黑体辐射源完全充满入瞳，到达设置的温度值并保持稳定，记录标准黑体辐射源的温度值，利用公式计算标准黑体辐射源的等效辐射亮度Ls，记录红外光学系统显示的实测温度值，利用公式计算热像仪显示的等效辐射亮度Lb，然后计算杂散辐射的等效辐射亮度Lc，因此能够解决利用仿真软件分析红外光学系统杂散辐射存在一定误差，且对于复杂红外光学系统无法完全模拟真实的杂散辐射来源与传输情况的问题。
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公开(公告)号：CN114111640B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202111474841.2
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 一种正弦条纹结构光投影系统及工作方法，解决了以往DMD技术采用二进制脉宽调制获取正弦条纹不适用于高速测量，而采用二值化条纹离焦投影正弦条纹对比度会随离焦量的增大而降低，同时大大降低了制造成本。其包括：照明光源(1)，透镜系统(2)、微型电机(3)、位移检测器(4)、移相反射镜(5)；照明系统为正弦条纹结构光投影系统提供照明；透镜系统将照明光源发出的平行光转换为发散光，其中的超透镜将均匀分布特征发散光转换为具有正弦条纹特征的发散光；移相反射镜对正弦条纹结构光的投射及相位进行调控；微型电机驱动移相反射镜的转动；位移检测器采集移相反射镜的位移数据。
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公开(公告)号：CN114152352A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111374591.5
申请日：2021-11-17
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明的红外光学系统由前置光学系统和定量热像仪组成，前置光学系统将入射平行光转为出射平行光，定量热像仪将前置光学系统出射平行光聚焦成像，定量热像仪是已进行了不同条件下的辐射定标，将另一个标准黑体辐射源置于红外光学系统的入瞳处，并确保黑体辐射源完全充满入瞳，到达设置的温度值并保持稳定，记录标准黑体辐射源的温度值，利用公式计算标准黑体辐射源的等效辐射亮度Ls，记录红外光学系统显示的实测温度值，利用公式计算热像仪显示的等效辐射亮度Lb，然后计算杂散辐射的等效辐射亮度Lc，因此能够解决利用仿真软件分析红外光学系统杂散辐射存在一定误差，且对于复杂红外光学系统无法完全模拟真实的杂散辐射来源与传输情况的问题。
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公开(公告)号：CN114114787A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111374585.X
申请日：2021-11-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种宽视场相机遮光罩及其设计方法，能够解决相机视场外的强光源通过光机结构及光学镜片的多次反射和散射，进入到光学探测器表面上形成杂散光而影响相机的成像质量的问题。这种宽视场相机遮光罩，其包括：遮光罩主体、多级挡光环，遮光罩采用高吸收率光学材料，遮光罩主体和挡光环均具有消杂散光涂层，多级挡光环之间间隔不相等。
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公开(公告)号：CN114111640A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111474841.2
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 一种正弦条纹结构光投影系统及工作方法，解决了以往DMD技术采用二进制脉宽调制获取正弦条纹不适用于高速测量，而采用二值化条纹离焦投影正弦条纹对比度会随离焦量的增大而降低，同时大大降低了制造成本。其包括：照明光源(1)，透镜系统(2)、微型电机(3)、位移检测器(4)、移相反射镜(5)；照明系统为正弦条纹结构光投影系统提供照明；透镜系统将照明光源发出的平行光转换为发散光，其中的超透镜将均匀分布特征发散光转换为具有正弦条纹特征的发散光；移相反射镜对正弦条纹结构光的投射及相位进行调控；微型电机驱动移相反射镜的转动；位移检测器采集移相反射镜的位移数据。
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