公开(公告)号：CN100573038C

公开(公告)日：2009-12-23

申请号：CN200810000577.7

申请日：2008-01-23

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 朱秋东 ,  曹根瑞 ,  王姗姗

IPC: G01B11/14 ,  G01B9/02 ,  G01J9/00

Abstract: 一种用于毫米量级的绝对距离测量方法，属光电技术领域。本发明采用色散瑞利干涉仪光路，通过CCD摄像机采集干涉条纹，并利用色散方向的条纹信息进行绝对距离粗测，利用基线方向的干涉条纹信息进行精确计算，最终实现绝对光程差的高精度测量。该方法测量迅速，原理简明，鲁棒性好，量程大，精度高，可用于高精度块规的标定、大型分块式望远镜的共相位检测等方面。

公开(公告)号：CN101221042A

公开(公告)日：2008-07-16

申请号：CN200810000577.7

申请日：2008-01-23

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 朱秋东 ,  曹根瑞 ,  王姗姗

IPC: G01B11/14 ,  G01B9/02 ,  G01J9/00

Abstract: 一种用于毫米量级的绝对距离测量方法，属光电技术领域。本发明采用色散瑞利干涉仪光路，通过CCD摄像机采集干涉条纹，并利用色散方向的条纹信息进行绝对距离粗测，利用基线方向的干涉条纹信息进行精确计算，最终实现绝对光程差的高精度测量。该方法测量迅速，原理简明，鲁棒性好，量程大，精度高，可用于高精度块规的标定、大型分块式望远镜的共相位检测等方面。