一种用于超声自动检测系统的三维校准试块

    公开(公告)号:CN106645433B

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201611139547.5

    申请日:2016-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种用于超声自动检测系统的三维校准试块,用于超声自动检测系统的三维校准试块包括一块平板以及凸起壳体,凸起壳体所在的平板位置处开有与凸起壳体敞口大小一致的通孔;平板与凸起壳体表面分布有缺陷,所述缺陷包括沉孔和开口槽;平板的上表面和下表面均设置有缺陷,上、下表面的缺陷互相错开;平板的侧面设置有沉孔;凸起壳体的内表面和外表面均设置有缺陷,内表面和外表面缺陷互相错开。由平板和凸起壳体组成,通过凸起壳体上设置缺陷,该试块实现对三维立体缺陷的模拟,在平板上设置有多种类型的沉孔和开口槽,作为一种多功能的校准对比试块,解决超声自动检测系统综合技术指标的校准问题。

    一种用于超声自动检测系统的三维校准试块

    公开(公告)号:CN106645433A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611139547.5

    申请日:2016-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种用于超声自动检测系统的三维校准试块,用于超声自动检测系统的三维校准试块包括一块平板以及凸起壳体,凸起壳体所在的平板位置处开有与凸起壳体敞口大小一致的通孔;平板与凸起壳体表面分布有缺陷,所述缺陷包括沉孔和开口槽;平板的上表面和下表面均设置有缺陷,上、下表面的缺陷互相错开;平板的侧面设置有沉孔;凸起壳体的内表面和外表面均设置有缺陷,内表面和外表面缺陷互相错开。由平板和凸起壳体组成,通过凸起壳体上设置缺陷,该试块实现对三维立体缺陷的模拟,在平板上设置有多种类型的沉孔和开口槽,作为一种多功能的校准对比试块,解决超声自动检测系统综合技术指标的校准问题。

Patent Agency Ranking