一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法

    公开(公告)号:CN106053023B

    公开(公告)日:2018-08-14

    申请号:CN201610390112.1

    申请日:2016-06-03

    Abstract: 公开了一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法,包括:确定所述系统中的杂散辐射源,其中,所述杂散辐射源的总个数为N个,所述杂散辐射源包括:光学元件自身的热辐射、机械结构自身的热辐射;对于第i个杂散辐射源,计算其辐射面上辐射的、且能够被探测器接收的辐射功率φi;对φi的传输过程进行分析,计算其在探测器上的辐射照度Ei;计算N个杂散辐射源在探测器上的总辐射照度E。其中,N为大于1的整数,i=1,…N。本发明的方法能够对杂散辐射与温度的关系进行定量分析,从而可为不同温度下杂散辐射的抑制提供理论制导。进一步的,通过在不同温度下有效抑制杂散辐射,能够有效提高系统的测量精度。

    一种双列对消红外光谱仪的定标系统

    公开(公告)号:CN104280119A

    公开(公告)日:2015-01-14

    申请号:CN201410505142.3

    申请日:2014-09-26

    Abstract: 本发明公开了一种双列对消红外光谱仪的定标系统,用于对口径大于300mm的双列对消红外光谱仪进行定标;所述定标系统包括:作为定标源的腔式黑体、设置有若干个孔径不同的光阑孔的光阑盘、口径小于双列对消红外光谱仪的口径的平行光管、设置有开孔的背景参考板、以及采集光阑盘温度的第一测温装置和采集背景参考板温度的第二测温装置;平行光管包括:第一曲面反射镜、第二曲面反射镜以及平面反射镜。本发明的定标系统适用于对大口径的双列对消红外光谱仪的定标,并且定标系统成本较低、易于实现。

    一种消除红外系统杂散辐射的系统和校准方法

    公开(公告)号:CN113310581A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110582128.3

    申请日:2021-05-27

    Abstract: 本发明提供了一种消除红外系统杂散辐射的系统和校准方法,其特征在于,该系统包括:黑体、反射镜、遮挡板和探测器;黑体为中空结构,黑体的内部设置有热源,黑体上设置有出口,热源发出的红外线能够通过出口辐射至反射镜,并通过反射镜反射至探测器;至少部分遮挡板设置于出口至探测器的连线上,用于对通过连线辐射至探测器的红外线进行遮挡。本方案能够消除红外系统中黑体校准所形成的杂散辐射。

    一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法

    公开(公告)号:CN106053023A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610390112.1

    申请日:2016-06-03

    CPC classification number: G01M11/02

    Abstract: 公开了一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法,包括:确定所述系统中的杂散辐射源,其中,所述杂散辐射源的总个数为N个,所述杂散辐射源包括:光学元件自身的热辐射、机械结构自身的热辐射;对于第i个杂散辐射源,计算其辐射面上辐射的、且能够被探测器接收的辐射功率φi;对φi的传输过程进行分析,计算其在探测器上的辐射照度Ei;计算N个杂散辐射源在探测器上的总辐射照度E。其中,N为大于1的整数,i=1,…N。本发明的方法能够对杂散辐射与温度的关系进行定量分析,从而可为不同温度下杂散辐射的抑制提供理论制导。进一步的,通过在不同温度下有效抑制杂散辐射,能够有效提高系统的测量精度。

    一种多站交会定位方法和系统

    公开(公告)号:CN111609849B

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202010513820.6

    申请日:2020-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种多站交会定位方法和系统。本发明的多站交会定位方法包括:每个探测站点分别获取探测目标的方位俯仰角度信息;根据各个探测站点获取的探测目标的方位俯仰角度信息,确定探测目标的地心坐标系坐标信息。本发明的多站交会定位系统包括:多个探测站点和中央处理器;每个探测站点分别获取探测目标的方位俯仰角度信息;中央处理器,设置为根据各个探测站点获取的探测目标的方位俯仰角度信息,确定探测目标的地心坐标系坐标信息。本发明的上述一种多站交会定位方法和系统,能够进行多站交会,利用多站的冗余信息提高定位精度。

    一种双列对消红外光谱仪的定标系统

    公开(公告)号:CN104280119B

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201410505142.3

    申请日:2014-09-26

    Abstract: 本发明公开了一种双列对消红外光谱仪的定标系统,用于对口径大于300mm的双列对消红外光谱仪进行定标;所述定标系统包括:作为定标源的腔式黑体、设置有若干个孔径不同的光阑孔的光阑盘、口径小于双列对消红外光谱仪的口径的平行光管、设置有开孔的背景参考板、以及采集光阑盘温度的第一测温装置和采集背景参考板温度的第二测温装置;平行光管包括:第一曲面反射镜、第二曲面反射镜以及平面反射镜。本发明的定标系统适用于对大口径的双列对消红外光谱仪的定标,并且定标系统成本较低、易于实现。

    一种多站交会定位方法和系统

    公开(公告)号:CN111609849A

    公开(公告)日:2020-09-01

    申请号:CN202010513820.6

    申请日:2020-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种多站交会定位方法和系统。本发明的多站交会定位方法包括:每个探测站点分别获取探测目标的方位俯仰角度信息;根据各个探测站点获取的探测目标的方位俯仰角度信息,确定探测目标的地心坐标系坐标信息。本发明的多站交会定位系统包括:多个探测站点和中央处理器;每个探测站点分别获取探测目标的方位俯仰角度信息;中央处理器,设置为根据各个探测站点获取的探测目标的方位俯仰角度信息,确定探测目标的地心坐标系坐标信息。本发明的上述一种多站交会定位方法和系统,能够进行多站交会,利用多站的冗余信息提高定位精度。

    针对红外光学系统杂散辐射的定量测量误差校正方法

    公开(公告)号:CN110455417B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201910772965.5

    申请日:2019-08-21

    Abstract: 本发明涉及一种针对红外光学系统杂散辐射的定量测量误差校正方法,包括:在红外光学系统的内部设置温度传感器;将红外光学系统置于恒温环境中进行辐射定标测量,记录定标体温度、响应值以及温度传感器的温度值;计算定标测量时总杂散辐射等效辐射亮度;根据定标体温度、响应值以及定标时总杂散辐射等效辐射亮度计算辐射定标的响应度和背景值;对目标进行测量,记录温度传感器的温度值和目标对应的响应值;根据记录的温度值,计算在测量时的总杂散辐射等效辐射亮度,结合目标对应的响应值以及响应度和背景值,计算得到修正后的目标等效辐射亮度。该方法可有效降低红外光学系统对目标的定量测量误差。

    针对红外光学系统杂散辐射的定量测量误差校正方法

    公开(公告)号:CN110455417A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201910772965.5

    申请日:2019-08-21

    Abstract: 本发明涉及一种针对红外光学系统杂散辐射的定量测量误差校正方法,包括:在红外光学系统的内部设置温度传感器;将红外光学系统置于恒温环境中进行辐射定标测量,记录定标体温度、响应值以及温度传感器的温度值;计算定标测量时总杂散辐射等效辐射亮度;根据定标体温度、响应值以及定标时总杂散辐射等效辐射亮度计算辐射定标的响应度和背景值;对目标进行测量,记录温度传感器的温度值和目标对应的响应值;根据记录的温度值,计算在测量时的总杂散辐射等效辐射亮度,结合目标对应的响应值以及响应度和背景值,计算得到修正后的目标等效辐射亮度。该方法可有效降低红外光学系统对目标的定量测量误差。

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