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公开(公告)号：CN119534323A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411705902.5
申请日：2024-11-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/01 , G01N21/17 , G01N21/3586 , G01N21/55
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹时域光谱BRDF测量系统及方法，系统的发射天线和接收天线分别用于发射太赫兹波和接收太赫兹波回波，六轴式机械臂用于支撑并调节待测材料的测试角度，第一离轴抛物面镜相对发射天线固定，用于将发射天线出射的太赫兹波转换为平行波束照射到待测材料，第二离轴抛物面镜相对接收天线固定，且能够围绕六轴式机械臂发生圆周运动，用于将待测材料反射的太赫兹波回波反射至接收天线，控制器用于采集待测材料的半球空间角度的太赫兹波的回波信号，通过处理分析得到待测材料的双向反射分布函数。该测量系统通过简单的结构，实现待测材料的半球空间角度的太赫兹波回波信号采集，进而实现待测材料的双向反射分布函数。测量方法操作方便。
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公开(公告)号：CN115728242B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202211485933.5
申请日：2022-11-24
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/03 , G01N21/55 , G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及等离子体技术领域，尤其涉及一种太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响的测定方法。该方法将测量光路设置在单独的封闭盒体内，避免等离子体对其他检测设备的污染，提高检测准确度。通过将不同波段的太赫兹波能量聚集、反射以及收集，并通过获得相应波段等离子体包覆对样品反射率的影响系数，通过频段拼接的方式获得太赫兹全频段的测量数据，确定太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响，为后续等离子体包覆相关领域的各项研究提供一种新的方式。
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公开(公告)号：CN117387760A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311328353.X
申请日：2023-10-13
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种有补偿光路的太赫兹时域光谱紧缩场测量系统，涉及光学设备领域，包括产生路和探测路，产生路和探测路均采用一个光线耦合激光器，光线耦合激光器将激光发射到产生路里的发射天线以及探测路的接收天线，产生路产生的紧缩场光路以及探测路发出的激光均到达接收天线，在产生路或探测路布置有补偿光路，补偿光路包括耦合器和收集器，收集器接收耦合器发出的激光，耦合器与收集器间隔布置以使激光在自由空间中传输，本发明具有解决了光纤耦合太赫兹时域光谱紧缩场测量系统中的色散、长光程差光路补偿等系统技术难题，可作为此类紧缩场系统设置的规范的优点。
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公开(公告)号：CN113589426B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202111066785.9
申请日：2021-09-13
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G02B6/02 , G01N21/3504 , G01N21/3581
Abstract: 本发明提供了一种空心光纤、气体检测系统及方法，气体检测系统可以包括：太赫兹波产生装置、太赫兹波探测装置、耦合装置、光谱信息处理装置和空心光纤；太赫兹波产生装置，用于产生太赫兹波入射至耦合装置中；耦合装置与空心光纤的一端相连，用于将太赫兹波和待测气体分别耦合至空心光纤的纤芯及包层内，以使太赫兹波在纤芯内传输过程中与从包层渗透到纤芯内的待测气体进行反应，并从纤芯的另一端输出；太赫兹波探测装置探测从纤芯输出的太赫兹波，得到待测气体的吸收光谱发送给光谱信息处理装置；光谱信息处理装置，用于根据待测气体的吸收光谱得到分析结果。本方案，能够降低气体检测系统的体积以及提高气体检测效率。
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公开(公告)号：CN111879238B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202010761630.6
申请日：2020-07-31
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种快速调整太赫兹时域光谱测量静区尺寸的装置及方法，包括太赫兹天线、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、主反射镜、第一电移台、第二电移台和调整部件，第一、第二电移台均架设在光学平台上，太赫兹天线架设在第一电移台上，第一、第三反射镜分别架设在两个调整部件上，两个调整部件分别架设在第一、第二电移台上，第二反射镜固连在第二电移台一侧的光学平台上，主反射镜固连在第二电移台另一侧的光学平台上；第一反射镜移动将太赫兹天线发射的波束反射到第二反射镜或第三反射镜上，第二反射镜和第三反射镜反射波束至主反射镜上，本发明提高太赫兹时域光谱散射测量系统目标测试尺寸选择灵活性的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119688654A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411883365.3
申请日：2024-12-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/59 , G01N21/01 , G01N21/3581 , G01N21/35
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹全频段气体长程透射率测量方法，通过在密封气腔内构建折叠光路，在气腔内充入待测气体，气腔具有入射光学窗口和出射光学窗口，通过入射光学窗口向折叠光路提供待测频段的准直太赫兹波，太赫兹波经折叠光路多次反射增长在待测气体中的传输路程后，从出射光学窗口出射至能量采集装置，获得待测频段太赫兹波在气体传输后的能量，再测得待测频段太赫兹波在真空传输相同光程后的能量，两者相除获得待测频段太赫兹波在待测气体的透射率。通过更换不同频段的太赫兹波以及不同组分气体完成太赫兹全频段在相应气体中长程透射率测量。该方法通过折叠光路延长了在测试气体中的传输路程，同时极大的压缩了光路的体积，保证测量精度。
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公开(公告)号：CN115825001A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211644498.6
申请日：2022-12-20
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种可变角度的太赫兹频段衰减全反射材料参数测量系统，涉及太赫兹波材料参数测量领域，包括太赫兹波产生系统、样品测量系统、太赫兹波探测系统和数据采集处理系统；太赫兹波产生系统辐射出的太赫兹波入射到样品测量系统中与待测样品发生衰减全反射作用,样品测量系统将携带样品介电特性的出射太赫兹波信号传输到探测天线进行探测,太赫兹波探测系统将探测到的原始太赫兹波信号传输到数据采集处理系统，以得到样品的材料参数特性，本发明具有保证太赫兹波传输过程中的波束完整性，确保待测样品材料参数测量过程中发生衰减全反射现象的优点。
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公开(公告)号：CN115728242A
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202211485933.5
申请日：2022-11-24
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/03 , G01N21/55 , G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及等离子体技术领域，尤其涉及一种太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响的测定方法。该方法将测量光路设置在单独的封闭盒体内，避免等离子体对其他检测设备的污染，提高检测准确度。通过将不同波段的太赫兹波能量聚集、反射以及收集，并通过获得相应波段等离子体包覆对样品反射率的影响系数，通过频段拼接的方式获得太赫兹全频段的测量数据，确定太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响，为后续等离子体包覆相关领域的各项研究提供一种新的方式。
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公开(公告)号：CN115166704A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210883018.5
申请日：2022-07-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明实施例涉及电磁散射技术领域，特别涉及一种目标RCS不确定度的确定方法、装置、设备及介质。该方法应用于太赫兹波时域光谱RCS测量系统，所述RCS测量系统包括太赫兹波产生单元、太赫兹波传输单元和太赫兹波探测单元；所述方法包括：根据所述太赫兹波时域光谱RCS测量系统各所述单元的设备配置以及测试时的室内环境，确定影响所述目标RCS不确定度的关键因素；确定每一个所述关键因素对应的不确定度分量；根据每一个所述不确定度分量，确定出所述目标的RCS不确定度。本发明实施例提供的目标RCS不确定度的确定方法、装置、设备及介质，能够准确地确定太赫兹波时域光谱RCS测量系统的目标RCS不确定度。
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公开(公告)号：CN113038678A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110257733.3
申请日：2021-03-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种基于太赫兹时域光谱的等离子体密度测量方法，包括：利用太赫兹时域光谱系统分别测量无等离子体时的参考时域光谱和有等离子体时的样品时域光谱；对参考时域光谱和样品时域光谱分别进行傅立叶变换，得到对应的参考频谱和样品频谱；根据样品频谱与参考频谱的相位差和频谱幅度之比，结合等离子体的厚度，确定等离子体的介电常数的实部；基于等离子体的介电常数的实部，计算等离子体密度。本发明能够实现等离子体密度无接触式实时测量，可以为等离子体研究提供重要的参数输入与技术支持。
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