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公开(公告)号：CN105136314B
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201510522877.1
申请日：2015-08-24
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 公开了一种本发明实施例的真空低温环境下红外热像仪的实现方法及装置。根据本发明的真空低温环境下红外热像仪的实现方法包括：根据红外热像仪的组成器件的最低工作温度要求、以及真空低温环境的压力和温度条件，将红外热像仪拆分成耐低温组件和常温组件；将耐低温组件固定于真空低温设备的内部、常温组件设置于真空低温设备的外部；耐低温组件将探测到的数据经由数据线传递给常温组件，常温组件根据接收的数据分析被测样品的红外辐射特性并显示。根据本发明，无须为了防止常温组件损害而对其进行保温或加热处理，能够大大缩小红外热像仪在低温真空罐内的体积，降低真空低温环境下使用红外热像仪的设计和安装成本。
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公开(公告)号：CN103630243B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310586669.9
申请日：2013-11-20
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种光学测量系统及提高大口径光学测量系统成像质量的方法。大口径光学测量系统由望远镜子系统和转台控制子系统组成。本发明中，为大口径光学测量系统增加了镜筒遮光罩子系统，并预先将镜筒遮光罩子系统设置于望远镜子系统外壁并半包裹，并沿镜筒视轴方向具有滑移性，并以镜筒视轴为轴心转动；根据实时获取的镜筒视轴方位角、镜筒视轴俯仰角、杂散光光源相对转台控制子系统的方位角、杂散光光源相对转台控制子系统的俯仰角以及镜筒直径，计算镜筒遮光罩子系统的调节参数；按照计算得到的调节参数驱动镜筒遮光罩子系统遮挡杂散光光源辐射至镜筒的杂散光。应用本发明，可以提高成像质量。
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公开(公告)号：CN107272688B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201710525522.7
申请日：2017-06-30
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开一种用于真空罐及狭窄区域内作业的多功能遥控装置，包括用于遥控控制的遥控器和遥控小车，遥控小车包括运动平台模块，其包括用于安装功能模块的平台本体和设于平台本体两侧且安装有擦除轮胎的车轮；平台本体上还设有用于接收遥控器的作业命令并控制遥控小车执行的控制系统模块；功能模块则包括能源模块，用于控制遥控小车吸附在狭窄区域表面以及改变遥控小车吸附状态的磁力吸附模块，清洗模块和安装于平台本体上的角落区域且能改变各个区域压力的区域压力调整模块；通过遥控器遥控小车开展清洗作业，可有效清除顽固性污渍，提高清洗作业效率，还能压缩试验准备时间，同时减少油污造成的真空罐体内部各个设备使用寿命的下降。
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公开(公告)号：CN103630243A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310586669.9
申请日：2013-11-20
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种光学测量系统及提高大口径光学测量系统成像质量的方法。大口径光学测量系统由望远镜子系统和转台控制子系统组成。本发明中，为大口径光学测量系统增加了镜筒遮光罩子系统，并预先将镜筒遮光罩子系统设置于望远镜子系统外壁并半包裹，并沿镜筒视轴方向具有滑移性，并以镜筒视轴为轴心转动；根据实时获取的镜筒视轴方位角、镜筒视轴俯仰角、杂散光光源相对转台控制子系统的方位角、杂散光光源相对转台控制子系统的俯仰角以及镜筒直径，计算镜筒遮光罩子系统的调节参数；按照计算得到的调节参数驱动镜筒遮光罩子系统遮挡杂散光光源辐射至镜筒的杂散光。应用本发明，可以提高成像质量。
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公开(公告)号：CN105241554B
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201510634414.4
申请日：2015-09-29
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 公开了种外场条件下的面源黑体型辐射源及其标定方法。该辐射源在辐射面外加装个防风作用的透红外的罩子,适用于外场恶劣环境,不受或者少受风和气流影响,保持足够的精度。该辐射源的标定方法包括步骤:先建立热像仪CCD采集的数据的DL值‑黑体温度对应关系表;由热像仪CCD采集的数据的DL值‑黑体温度对应关系表建立热像仪CCD采集的数据的DL值与黑体温度的标定曲线;再建立黑体温度‑黑体辐射温度对应关系表;最后在外场条件下,在使用防风透红外罩的情况下,建立黑体辐射温度‑热像仪CCD采集的数据的DL值对应关系表;从而建立由黑体辐射温度‑热像仪CCD采集的数据的DL值对应关系表对应的标定曲线,完成标定工作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107272688A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710525522.7
申请日：2017-06-30
Applicant: 北京环境特性研究所
CPC classification number: G05D1/0253 , G05D1/0214 , G05D1/0259 , G05D2201/02 , G08C17/02
Abstract: 本发明公开一种用于真空罐及狭窄区域内作业的多功能遥控装置，包括用于遥控控制的遥控器和遥控小车，遥控小车包括运动平台模块，其包括用于安装功能模块的平台本体和设于平台本体两侧且安装有擦除轮胎的车轮；平台本体上还设有用于接收遥控器的作业命令并控制遥控小车执行的控制系统模块；功能模块则包括能源模块，用于控制遥控小车吸附在狭窄区域表面以及改变遥控小车吸附状态的磁力吸附模块，清洗模块和安装于平台本体上的角落区域且能改变各个区域压力的区域压力调整模块；通过遥控器遥控小车开展清洗作业，可有效清除顽固性污渍，提高清洗作业效率，还能压缩试验准备时间，同时减少油污造成的真空罐体内部各个设备使用寿命的下降。
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公开(公告)号：CN105222897A
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201510572297.3
申请日：2015-09-10
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 公开了一种定量型高温红外辐射源系统，包括：辐射模块、控制器以及用于为定量型高温红外辐射模块系统提供电力的电源；其中，辐射模块包括：反射板、设置于反射板的一侧的保温材料、设置于反射板的另一侧的陶瓷支架、以及架设在陶瓷支架上的硅碳棒阵列；硅碳棒阵列的两端分别与控制器连接，用于在控制器的控制下产生高温红外辐射。根据本发明，能够实现辐射温度的精确控制，并提高辐射强度。
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公开(公告)号：CN105241554A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201510634414.4
申请日：2015-09-29
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 公开了一种外场条件下的面源黑体型辐射源及其标定方法。该辐射源在辐射面外加装一个防风作用的透红外的罩子，适用于外场恶劣环境，不受或者少受风和气流影响，保持足够的精度。该辐射源的标定方法包括步骤：先建立热像仪CCD采集的数据的DL值-黑体温度对应关系表；由热像仪CCD采集的数据的DL值-黑体温度对应关系表建立热像仪CCD采集的数据的DL值与黑体温度的标定曲线；再建立黑体温度-黑体辐射温度对应关系表；最后在外场条件下，在使用防风透红外罩的情况下，建立黑体辐射温度-热像仪CCD采集的数据的DL值对应关系表；从而建立由黑体辐射温度-热像仪CCD采集的数据的DL值对应关系表对应的标定曲线，完成标定工作。
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公开(公告)号：CN105136314A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201510522877.1
申请日：2015-08-24
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 公开了一种本发明实施例的真空低温环境下红外热像仪的实现方法及装置。根据本发明的真空低温环境下红外热像仪的实现方法包括：根据红外热像仪的组成器件的最低工作温度要求、以及真空低温环境的压力和温度条件，将红外热像仪拆分成耐低温组件和常温组件；将耐低温组件固定于真空低温设备的内部、常温组件设置于真空低温设备的外部；耐低温组件将探测到的数据经由数据线传递给常温组件，常温组件根据接收的数据分析被测样品的红外辐射特性并显示。根据本发明，无须为了防止常温组件损害而对其进行保温或加热处理，能够大大缩小红外热像仪在低温真空罐内的体积，降低真空低温环境下使用红外热像仪的设计和安装成本。
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公开(公告)号：CN203732159U
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201320707960.2
申请日：2013-11-11
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J5/06
Abstract: 本实用新型属于光电产品应用技术领域技术领域，具体涉及一种热像仪可用的非均匀校正装置。本实用新型的热像仪可用的非均匀校正装置，包括半导体制冷器和温度显示系统：温度显示系统用于显示半导体制冷器的温度，半导体制冷器能够通过改变自身输入电流的大小为热像仪提供不同的均匀温度面。本实用新型的非均匀校正装置能够在热像仪进行两点非均匀性校正时提供不同温度的两个均匀温度面，使热像仪在复杂气象条件下的外场测试时，能够形成更高的成像质量。
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