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发明公开
设备测试方法、装置、电子设备和存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116257431A

公开(公告)日：2023-06-13

申请号：CN202211605646.3

申请日：2022-12-14

Applicant: 北京格林威尔科技发展有限公司 , 北京格林伟迪科技股份有限公司 , 北京格林伟迪通信技术有限公司

Inventor： 胡楠 , 陈江峰 , 张建鑫 , 沈含

IPC: G06F11/36

Abstract: 本公开实施例提供了一种设备测试方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括：生成测试用例；其中，测试用例包括测试脚本和预期结果；预期结果与被测设备的提供者提供的参数和参数值相匹配；被测设备为运行配置协议的设备；向被测设备发送测试请求；其中，测试请求中携带测试脚本；获取被测设备响应的测试结果；其中，测试结果为被测设备运行测试脚本后获得的测试结果；使用测试结果与预期结果进行匹配；输出匹配结果。该方法能够自动化实现设备测试，并对测试结果进行准确判断。

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